[发明专利]一种用于波形最值测量的方法和系统

说明书

本发明公开了一种用于波形最值测量的方法，包括：获取采样器对波形进行连续采样后得到的采样数据，所有采样数据构成采样数组M，根据得到的采样数组M获取波形的频率，并根据该频率是否稳定判断该波形是否是周期信号，如果是周期信号，则根据获取的波形的频率、以及使用的采样率生成4个幅值为1的标准波形数组，获取采样数组中每个元素与所有元素均值之间的差值，所有差值构成差值数组V，在得到的差值数组V中，查找满足v_p≥0，且v_p‑1<0的第一个p值，并根据查找到的p值建立新的子数组，对子数组进行归一化处理，以得到归一化数组V2。本发明能够解决现有方法存在的无法准确获取波形最值、进而导致波形最值测量不准确的技术问题。

技术领域

本发明属于数字信号测量技术领域，更具体地，涉及一种用于波形最值测量的方法和系统。

背景技术

在现有数字电子仪器仪表领域中，经常需要测量波形的最值(例如电压的最大值或最小值，或者电流的最大值或最小值)。现有测量波形最值的方法，首先是通过采样器对波形进行采样，然后从采样得到的波形数据中测量波形的最值。

然而，上述测量波形最值的方法存在一个不可忽略的技术问题，当采样器的采样频率过低时，会造成采样点过少，从而无法准确采集到波形的最值，进而导致波形最值测量不准确。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种用于波形最值测量的方法和系统，其目的在于，解决现有测量波形最值的方法中，当采样器的采样频率过低时，所导致的无法准确获取波形最值、进而导致波形最值测量不准确的技术问题。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种用于波形最值测量的方法，包括以下步骤：

(1)获取采样器对波形进行连续采样后得到的采样数据，所有采样数据构成采样数组M＝[m₁，m₂，m₃，…，m_N]，其中N表示采样数据的总数量；

(2)根据步骤(1)得到的采样数组M获取波形的频率，并根据该频率是否稳定判断该波形是否是周期信号，如果是周期信号则进入步骤(3)，否则转入步骤(9)；

(3)根据步骤(2)获取的波形的频率、以及步骤(1)中使用的采样率生成4个幅值为1的标准波形数组，包括正弦波数据数组A＝[a₁，a₂，a₃，…，a_N]、方波数组B＝[b1，b2，b3，…，b_N]、三角波数组C＝[c₁，c₂，c₃，…，c_N]、以及锯齿波数组D＝[d₁，d₂，d₃，…，d_N]；

(4)获取步骤(1)中得到的采样数组中每个元素与所有元素均值之间的差值，所有差值构成差值数组V＝[v₁，v₂，v₃，…，v_N]，且有其中j∈[1,N]；