[发明专利]一种均匀五元圆阵测向方法

权利要求书

1.一种均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，包括；

根据均匀五元圆阵的多种基线结构及对应的加权矩阵，确定多种测向方法，采用每种测向方法分别进行测向得到多个测向结果；

判断所述多个测向结果是否存在错解模糊；如果存在，则不采信本次测向结果；如果不存在，则采信本次测向结果；

对采信的测向结果进行融合，得到最终测向结果；

均匀五元圆阵的基线结构包括：闭环短基线结构、中等基线结构、长基线结构、全基线结构和非闭环短基线结构；

所述测向结果包括方位角估计值和俯仰角估计值

其中，μ(ζ,η)＝(μ₁(ζ,η),...,μ_k(ζ,η),...,μ_N(ζ,η))^T；k＝1,…,N；N为基线结构中的基线总数；ζ,η分别为方位、俯仰角的变量；

为第k组基线的相位差；为含测量误差的相位差测量值；

W为加权矩阵。

2.根据权利要求1所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，根据基线结构的是否可逆，选择对应的加权矩阵W；为该基线结构的相位差测量误差方差，C_j是第j种基线结构的基线选择矩阵。

3.根据权利要求2所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，对于闭环短基线结构、长基线结构和全基线结构，加权矩阵W均选择为单位对角矩阵。

4.根据权利要求2所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，对于中等基线结构，加权矩阵W为单位对角矩阵，或者为W＝Σ^-1，

5.根据权利要求2所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，对于非闭环短基线结构，加权矩阵W为单位对角矩阵，或者为W＝Σ^-1，

6.根据权利要求2所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，根据下述判断条件判断多个测向方法的测向结果是否存在错解模糊：

其中，i,h为测向方法的序号，M为测向方法的数量；θ_th为角度阈值。

7.根据权利要求6所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，所述对采信的测向结果进行融合包括：

从采信的测向结果中选取L种测向方法的测向结果；

根据公式得到最终测向结果；

其中，l＝1,...,L；为融合选取测向结果中第l个测向方法的测向结果。

8.根据权利要求7所述的均匀五元圆阵测向方法，其特征在于，所述L＝5；选取的测向方法包括：对于闭环短基线结构、长基线结构和全基线结构，加权矩阵W为单位对角矩阵，构成的三种测向方法；

以及对于中等基线结构，选择加权矩阵W＝Σ^-1，构成的测向方法；

以及对于非闭环短基线结构，加权矩阵W＝Σ^-1，构成的测向方法。