[发明专利]电致变色窗户制作方法在审
申请号: | 201910398563.3 | 申请日: | 2011-10-26 |
公开(公告)号: | CN110187583A | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 马克·A·科林斯;罗纳德·M·帕克;罗伯特·T·罗兹比克;扎伊里亚·什里瓦斯塔瓦 | 申请(专利权)人: | 唯景公司 |
主分类号: | G02F1/153 | 分类号: | G02F1/153;G02F1/155;G02F1/161;G02F1/1523;G02F1/1333;G02B1/14;B32B17/10 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 章蕾 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电致变色 窗格 窗户制作 切割 玻璃板 电致变色器件 中空玻璃单元 玻璃板切割 边缘去除 浮法玻璃 激光划片 切割图案 低缺陷 汇流条 界定 制作 窗户 覆盖 制造 | ||
本发明涉及电致变色窗户制作方法。本发明描述制造电致变色窗户的方法。电致变色器件被制作来大致上覆盖玻璃板,例如浮法玻璃,并且切割图案是基于所述器件中的一个或多个切割出一个或多个电致变色窗格的低缺陷率区域进行界定。可在切割所述窗格之前或之后添加激光划片和/或汇流条。还可以在从所述玻璃板切割所述电致变色窗格之前或之后执行边缘去除。中空玻璃单元(IGU)是由所述电致变色窗格制作,并且任选地强化所述IGU的所述窗格中的一个或多个。
分案申请的相关信息
本申请是国际申请号为PCT/US2011/057916、申请日为2011年 10月26日、发明名称为“电致变色窗户制作方法”的PCT申请进入 中国国家阶段后申请号为201180057861.8的中国发明专利申请的分 案申请。
相关申请的交叉引用
本申请要求2010年11月8日提交的名称为: “ELECTROCHROMIC WINDOWFABRICATION METHODS”的美 国专利申请号12/941,882的优先权,所述美国专利申请在此以引用方 式全部并入并用于所有目的。
发明领域
本发明大体来说涉及电致变色器件,更具体来说涉及电致变色窗 户。
背景
电致变色是材料在置于不同电子状态时(通常通过经受电压改 变),在光学性质上表现出可逆的电化学介导变化的现象。光学性质 通常是色彩、透射率、吸光率以及反射率中的一个或多个。一种众所 周知的电致变色材料是氧化钨(WO3)。氧化钨是阴极电致变色材料, 其中因电化学还原而发生染色过渡(coloration transition)(对蓝色透 明)。
可将电致变色材料并入例如用于家用、商业以及其它用途的窗户 中。可通过诱导电致变色材料的改变来改变这类窗户的色彩、透射率、 吸光率和/或反射率,即,电致变色窗户是可以电子方式变暗或变亮 的窗户。施加于窗户的电致变色器件的小电压将使所述窗户变暗;使 电压反向会使所述窗户变亮。这种能力允许控制穿过窗户的光的量, 并且为电致变色窗户带来了将被用作节能装置的机会。
虽然二十世纪六十年代就已发现电致变色,但是遗憾的是,电致 变色器件,尤其是电致变色窗户,仍遭受各种问题,并且尽管电致变 色技术、设备以及制成和/或使用电致变色器件的有关方法都在近期 取得了许多进展,但是电致变色窗户还没有开始体现出它们的全部商 业潜力。
发明概述
本申请解决的技术问题是提高中空玻璃单元(IGU)的品质和产量 并且加强在IGU内的电致变色窗格。本发明描述制造电致变色窗户 的方法。电致变色(或“EC”)器件被制作来大致上覆盖玻璃板,例如 浮法玻璃(float glass),并且切割图案是基于所述器件中的一个或多个 切割出一个或多个电致变色窗格的区域进行界定。在各种实施方案 中,仅在已制作出并且表征了电致变色器件之后至少部分地界定所述 切割图案。在一些情况下,在考量了电致变色器件的整体品质和/或 器件中缺陷的位置之后界定所述切割图案。例如,可探测电致变色器 件来确定所有缺陷或某些类型或类别的缺陷的位置。随后,所述切割图案从可用窗户窗格中排除那些缺陷,从而得到总体上高品质的产品 和高产量的工艺。在另一实施例中,检查完整的器件板材来确定EC 器件的漏电流或EC器件的电极层中一个或两个的电阻率。如果漏电 流比阈值高或TCO层的电阻率比阈值高,那么就限制电致变色窗格 的大小来确保即使在所述器件的高泄漏或TCO的高电阻率情况下所 得窗户仍有充分表现。
在某些实施方案中,在制作工艺中的一个或多个点执行对玻璃板 和/或单独窗格的检查。例如,在EC器件形成以界定用于玻璃板的切 割图案之后,和/或在切割单独窗格来测试单独窗格之后,可使用各 种光学、电气、化学和/或机械计量测试来探测产品。可检查EC器件 的单独层、下伏的衬底等。检查可包括例如检测EC器件中和/或玻璃 的边缘中的缺陷。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于唯景公司,未经唯景公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910398563.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种亚像素位移的成像装置及其应用
- 下一篇:显示面板与其操作方法