[发明专利]一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置及其使用方法有效
申请号: | 201910402868.7 | 申请日: | 2019-05-15 |
公开(公告)号: | CN110112081B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 曹高煜 | 申请(专利权)人: | 深圳市芯都半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126 | 代理人: | 王前程 |
地址: | 518100 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 带有 矫正 功能 二极管 引脚 测量 装置 及其 使用方法 | ||
1.一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,其特征在于,包括:固定底板(1)、夹块(2)、用于插装二极管封装体(3)的支架,安装于支架上的转动式夹紧机构、用于对二极管封装体(3)的引脚(4)进行矫正的矫正机构、用于与引脚(4)接触或断开接触以控制通断电的弹性触电块(14),以及,用于测量引脚(4)长度的测量机构,所述夹块(2)滑动设置于固定底板(1)上,所述支架固定设置于固定底板(1)上,所述夹紧机构转动设置于支架上,矫正机构设置于夹紧机构上,弹性触电块(14)安装于支架上,所述夹紧机构、矫正机构的个数均为两个,所述测量机构安装于固定底板(1)上,所述弹性触电块(14)电性连接所述矫正机构,一个矫正机构对应两个弹性触电块(14);
所述夹紧机构包括转盘(7)和传动臂(10),传动臂(10)的一端活动插设于支架上,支架上开设有供传动臂(10)滑动的滑槽,传动臂(10)的另一端活动穿设在转盘(7)上,所述转盘(7)的中心位置开设有用于引脚(4)穿过的通孔,所述转盘(7)上还开设有供传动臂(10)运动导向的导向槽(8),所述矫正机构设置于传动臂(10)上的靠近支架的一端,所述传动臂(10)至少三个;
所述矫正机构包括矫正本体和压电陶瓷,所述矫正本体固定安装于传动臂(10)上的靠近支架的一端,且处于可接触到引脚(4)的一侧,所述压电陶瓷分布于矫正本体的表面,压电陶瓷至少为三个,各压电陶瓷电性连接所述弹性触电块(14)。
2.根据权利要求1所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,其特征在于,所述导向槽(8)呈弧形地向转盘(7)的外缘延伸,导向槽(8)一端靠近转盘(7)的转动中心,另一端远离转盘(7)的转动中心,导向槽(8)的数量与传动臂(10)的数量相匹配,各导向槽(8)相对于转盘(7)的转动中心均匀分布。
3.根据权利要求1所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,其特征在于,所述支架包括支撑臂(5)和套筒(6),所述支撑臂(5)固定连接在固定底板(1)上,所述套筒(6)为两个,两个套筒(6)呈竖向并列或水平并排地设置于支撑臂(5)上,各套筒(6)的中心位置开设有用于引脚(4)穿过的通孔,所述滑槽开设于套筒(6)上,转盘(7)转动安装于套筒(6)上。
4.根据权利要求3所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,其特征在于,弹性触电块(14)的两端固定安装于套筒(6)上,两个弹性触电块(14)并排地设置。
5.根据权利要求3所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,其特征在于,转盘(7)上背离套筒(6)的侧面的外缘位置设置有侧齿圈(19),两个套筒(6)之间连接有T字型连接臂(15),T字型连接臂(15)的外侧端限位滑动连接有限位块(16),限位块(16)上靠近转盘(7)的侧面两端均固定有用于卡接各侧齿圈(19)的卡齿块(18),T字型连接臂(15)上套设有弹簧(17),弹簧(17)的一端连接限位块(16),另一端连接T字型连接臂(15)。
6.根据权利要求1-5任一项所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,其特征在于,所述测量机构为测量尺或位移测量器。
7.一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置的使用方法,其特征在于,采用如权利要求1所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置,包括如下步骤:
A.将二极管封装体(3)放置在夹块(2)上夹持,将引脚(4)从矫正机构、夹紧机构和弹性触电块(14)中穿过,移动夹块(2)使夹块(2)贴靠于支架上;
B.转动夹紧机构,以夹紧引脚(4),弹性触电块(14)触及引脚(4)时,启动矫正机构运作,以对引脚(4)进行矫正;
C.矫正机构对引脚(4)进行挤压推动式矫正,对引脚(4)进行矫正的同时,带动引脚(4)相对于支架移动;或者,夹块(2)移动,以带动引脚(4)相对于支架移动;
D.当引脚(4)移动到与弹性触电块(14)脱离接触时,矫正机构停止运作,引脚(4)停止移动,此时测量机构的读数反应出引脚(4)的长度。
8.根据权利要求7所述的一种带有矫正功能的二极管引脚测量装置的使用方法,其特征在于,支架包括支撑臂(5)和套筒(6),支撑臂(5)固定连接在固定底板(1)上,套筒(6)为两个,两个套筒(6)呈竖向并列或水平并排地设置于支撑臂(5)上,各套筒(6)的中心位置开设有用于引脚(4)穿过的通孔,滑槽开设于套筒(6)上,转盘(7)转动安装于套筒(6)上;
步骤A中,各引脚(4)从各套筒中心的通孔、弹性触电块(14)及转盘(7)的中心穿过,夹块(2)贴靠于套筒(6)或支撑臂(5)时,引脚(4)的根部处于测量机构的基准零位;
步骤B中,转动转盘(7),使传动臂(10)向靠近引脚(4)的方向移动,转盘(7)转动到位时,各传动臂(10)上矫正本体抵靠于引脚(4)上,矫正本体上的各压电陶瓷在通电情况下,经电量控制,各压电陶瓷产生形变,使各矫正本体作用于引脚(4)上,对引脚(4)进行矫正。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市芯都半导体有限公司,未经深圳市芯都半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910402868.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造