[发明专利]图像拼接质量的测评方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种图像拼接质量的测评方法及装置，所述方法包括：获取待评测图像的第一属性信息和参考图像的第二属性信息，第一属性信息包括待评测图像的盲区信息、像素点信息和频率信息，第二属性信息包括参考图像的像素点信息和频率信息，待评测图像为拼接至少两个第一图像得到的，参考图像为拼接至少两个第二图像得到的，根据第一属性信息和所述第二属性信息，确定待评测图像的拼接质量。用于提高对待评测图像的拼接质量进行测评的准确性。

技术领域

本发明实施例涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像拼接质量的测评方法及装置。

背景技术

摄像机可以对其所在的环境进行图像采集，并将采集到的图像拼接成全景图像，从而使得用户在观看投影设备播放全景图像时，具有身临其境的感受。

在实际应用中，在拼接成全景图像后，需要对全景图像的拼接质量进行测评。目前，对全景图像的拼接质量的测评方法的方法包括：获取参考图像和待测评全景图像上对应位置的像素点的灰度值，根据参考图像和待测评全景图像上对应位置的像素点的灰度值，计算参考图像和待测评全景图像的均方误差值，并将所述均方误差值作为全景图像的拼接质量。

在上述过程中，均方误差值为根据对应位置上的参考图像上像素点的灰度值和待测评全景图像上像素点的灰度值得到的，若参考图像上像素点与待测评全景图像上像素点的位置不对应时，导致获取的均方误差值不准确，进而导致对全景图像的拼接质量的测评不准确。

发明内容

本发明实施例提供一种图像拼接质量的测评方法及装置，用于提高对待评测图像的拼接质量进行测评的准确性。

第一方面，本发明实施例提供一种图像拼接质量的测评方法，包括：

获取待评测图像的第一属性信息和参考图像的第二属性信息，所述第一属性信息包括所述待评测图像的盲区信息、像素点信息和频率信息，所述第二属性信息包括所述参考图像的像素点信息和频率信息，所述待评测图像为拼接至少两个第一图像得到的，所述参考图像为拼接至少两个第二图像得到的；

根据所述第一属性信息和所述第二属性信息，确定所述待评测图像的拼接质量。

在一种可能的实施方式中，所述根据所述第一属性信息和所述第二属性信息，确定所述待评测图像的拼接质量，包括：

根据所述第一属性信息和所述第二属性信息，确定所述待评测图像的特征向量；

对所述特征向量进行处理，得到所述待评测图像的拼接质量。

在另一种可能的实施方式中，所述根据所述第一属性信息和所述第二属性信息，确定所述待评测图像的特征向量，包括：

根据所述第一属性信息中的盲区信息，确定所述待评测图像的盲区特征；

根据所述第一属性信息中的像素点信息和第二属性信息的像素点信息，确定所述待评测图像的直方图统计特征和稀疏重建特征；

根据所述第一属性信息中的频率信息和第二属性信息的频率信息，确定所述待评测图像的感知哈希特征；

根据所述待评测图像和所述至少两个第一图像，确定所述待评测图像的色差特征；

根据所述盲区特征、直方图统计特征、稀疏重建特征、感知哈希特征和色差特征，确定所述特征向量。

在另一种可能的实施方式中，所述对所述特征向量进行处理，得到所述待评测图像的拼接质量，包括：

获取预设模型，所述预设模型为根据多组样本图像学习得到的，每组样图像本包括样本图像的特征向量和所述样本图像对应的样本拼接质量；

通过所述预设模型，对所述特征向量进行处理，得到所述待评测图像的拼接质量。

在另一种可能的实施方式中，所述预设模型为：