[发明专利]对象检测设备及其操作方法在审
申请号: | 201910403419.4 | 申请日: | 2019-05-15 |
公开(公告)号: | CN110488244A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 金庆麟;曹圣恩;金元谦;金荣信;赵敏在 | 申请(专利权)人: | 现代摩比斯株式会社 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481 |
代理公司: | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 梁丽超<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 保护膜 对象检测传感器 目标对象 异物 污染 对象检测设备 防止异物 感测目标 感测信号 感测性能 更换条件 扫描信号 卷绕 反射 配置 发送 | ||
1.一种对象检测设备,包括:
对象检测传感器,具有用于保护所述对象检测传感器免受异物影响的盖,并且被配置为通过向目标对象发送扫描信号并接收从所述目标对象反射的感测信号来感测所述目标对象,其中,通过所述盖分别发送和接收所述扫描信号和所述感测信号;
保护膜部,包括设置在所述盖的外表面上的保护膜,以防止异物污染所述盖;以及
控制单元,被配置为当由于所述保护膜的污染而满足保护膜更换条件时,通过所述保护膜部的卷绕操作来更换设置在所述盖的外表面上的所述保护膜。
2.根据权利要求1所述的对象检测设备,还包括辊单元,所述辊单元被配置为在所述控制单元的控制下,通过对所述保护膜部执行卷绕操作来更换设置在所述盖的外表面上的所述保护膜。
3.根据权利要求1所述的对象检测设备,其中,当在某一时刻设置在所述盖的外表面上的所述保护膜的污染等级大于或等于预设阈值时,所述控制单元被配置为确定满足所述保护膜更换条件。
4.根据权利要求1所述的对象检测设备,其中,当从所述保护膜设置在所述盖的外表面上开始直到更换所述保护膜所经过的时间段大于或等于预设参考值时,所述控制单元被配置为确定满足所述保护膜更换条件。
5.根据权利要求1所述的对象检测设备,其中,所述对象检测传感器包括激光雷达传感器。
6.一种对象检测设备的操作方法,所述对象检测设备包括:对象检测传感器,包括用于保护所述对象检测传感器免受异物影响的盖,并且被配置为通过向目标对象发送扫描信号并接收从所述目标对象反射的感测信号来感测所述目标对象,其中,通过所述盖分别发送和接收所述扫描信号和所述感测信号;以及保护膜部,包括设置在所述盖的外表面上的保护膜,以防止异物污染所述盖,所述操作方法包括以下步骤:
由控制单元确定由于保护膜的污染是否满足保护膜更换条件,并且
当满足所述保护膜更换条件时,由所述控制单元通过所述保护膜部的卷绕操作,来控制更换设置在所述盖的外表面上的所述保护膜。
7.根据权利要求6所述的操作方法,其中,确定是否满足所述保护膜更换条件的步骤包括第一确定步骤,其中,控制单元被配置为当在某一时间点设置在所述盖的外表面上的保护膜的污染等级大于或等于预设阈值时,确定满足所述保护膜更换条件。
8.根据权利要求7所述的操作方法,其中,当确定所述保护膜的污染等级小于所述预设阈值时,确定是否满足所述保护膜更换条件的步骤还包括第二确定步骤,其中,所述控制单元被配置为当从所述保护膜设置在所述盖的外表面上开始所经过的时间段大于或等于预设参考值时,确定满足所述保护膜更换条件。
9.根据权利要求8所述的操作方法,其中,根据预设周期重复执行所述第一确定步骤,并且所述预设周期的持续时间小于或等于所述预设参考值。
10.根据权利要求6所述的操作方法,还包括以下步骤:当确定满足所述保护膜更换条件时,由所述控制单元确定是否存在用于更换设置在所述盖的外表面上的所述保护膜的新保护膜,
其中,在更换所述保护膜的步骤中,所述控制单元被配置为当确定存在所述新保护膜时,控制更换设置在所述盖的外表面上的所述保护膜。
11.根据权利要求10所述的操作方法,还包括以下步骤:当确定不存在所述新保护膜时,由所述控制单元通知用户需要更换保护膜部。
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