[发明专利]一种试样表面处理辅助设备

说明书

本发明涉及一种试样表面处理辅助设备，包括分度筒、螺杆、螺母、夹头和刀架，螺杆的第一端与分度筒固定连接，螺杆的第二端与夹头的尾部固定连接，夹头的头部用于夹持固定待处理试样。螺母与螺杆螺纹连接，螺母的第一端套设在分度筒内。刀架为两端具有开口的腔体结构，螺母的第二端外壁与刀架固定连接，且夹头和部分螺杆设在刀架的腔体内并能够相对于腔体移动。分度筒和螺母上均设置有用于指示螺杆相对于腔体所移动距离的刻度线。本发明中的设备结构简单，成本低，操作简便，可以实现尺寸较小且精度较高的金相试样的机械研磨及抛光，且磨去量可控。

技术领域

本发明属于金相试样抛磨实验技术领域，具体涉及一种试样表面处理辅助设备。

背景技术

在理化实验室中经常需要对试件样品进行显微组织观察，由此也需要将试样进行如研磨抛光等表面处理以便观察其微观组织。

在现今各大高校以及实验室中，金相试样的制备主要以传统手工研磨为主，即实验人员手持试样直接按压在试样研磨及抛光设备上进行试样的表面处理。然而，传统方法的精度较低，且对操作人员的操作要求较高，过程比较麻烦，费时费力。而且手动操作存在着人为因素所引起的许多不确定性。另外，当金相试样尺寸较小而导致操作者无法正常握持时，很难实现手持磨抛。即使通过一些方式可以进行手动磨抛，但是对于实验或者研究中尺寸精度的要求也很难保证。

虽然针对传统人工金相研磨方法的缺陷，有一些如转盘式，履带式磨样机的磨样设备相继问世。但是设备本身过于庞大，而且其生产维护成本高，体积庞大，进口周期长等不足之处也限制了其应用。而且，如上磨样设备也无法应用于对于尺寸极小的微型试件的表面处理过程。例如，如果实验研究中需要对试样的1/2，1/3横截面或者纵截面的表面情况进行观察时，通常如果试样的尺寸较小，则对于其截面位置的准确性是无法把控的，如果仍然通过手动的方式进行磨抛，也无法有效控制试样的磨去量，则可能造成最后结果的不准确。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明提供一种试样表面处理辅助设备，旨在解决现有技术中存在的对试样进行抛磨时精度较低、操作复杂、成本高、无法有效控制试样的磨去量以及较难适用于尺寸较小的试样的问题。

(二)技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的主要技术方案包括：

本发明提供一种试样表面处理辅助设备，包括分度筒、螺杆、螺母、夹头和刀架；螺杆的第一端与分度筒固定连接，螺杆的第二端与夹头的尾部固定连接，夹头的头部用于夹持固定待处理试样；螺母与螺杆螺纹连接，螺母的第一端套设在分度筒内；刀架为两端具有开口的腔体结构，螺母的第二端外壁与刀架固定连接，且夹头和部分螺杆设在刀架的腔体内并能够相对于腔体移动；分度筒和螺母上均设置有用于指示螺杆相对于腔体所移动距离的刻度线。

根据本发明，还包括接头；接头与分度筒的第一端固定连接，螺杆的第一端套设在分度筒的第二端内并与接头固定连接。

根据本发明，螺杆内沿其轴向方向设有内螺纹，通过紧固螺钉与螺杆内的内螺纹相配合将螺杆的第一端与接头固定。

根据本发明，螺杆上螺纹的螺距为1.0mm，分度筒上沿其外表面一周共设有50个刻度。

根据本发明，刀架的主体呈圆筒状，刀架的第一端的孔壁截面为梯形，且梯形靠近刀架的第二端的直径大于远离刀架的第二端的直径；刀架的第一端与螺母固定连接，刀架的第二端端面上开设有供待处理试样穿过的开口。

根据本发明，刀架的侧面上设有凹槽。

根据本发明，夹头为微型钻夹头。

根据本发明，夹头的尾部沿其轴向设有开孔，夹头的尾部沿其径向设有至少一个螺纹孔，且螺纹孔与开孔相连通；螺杆的第二端穿设在开孔内，并通过紧固螺栓与螺纹孔旋和将螺杆的第二端与夹头的尾部固定。