[发明专利]一种控制方法和控制装置及其系统在审

专利信息
申请号: 201910411473.3 申请日: 2019-05-17
公开(公告)号: CN112039401A 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 杭州三花研究院有限公司
主分类号: H02P23/00 分类号: H02P23/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 控制 方法 装置 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种控制方法,能够用于带电机与控制装置的系统,所述控制装置存储或预设有所述电机运行时可能的最小相位校正值和最大相位校正值或最小相位差至最大相位差,或者所述控制装置存储有所述电机运行时可能的最小相位校正值的相关量和最大相位校正值的相关量;

所述控制方法在所述电机运行时包括以下步骤:

b):在最小相位校正值至最大相位校正值范围细分为多组或在最小相位差至最大相位差范围细分为多组或将最小相位校正值的相关量至最大相位校正值的相关量范围细分为多组;

c):控制所述电机按多组的其中某一组相位校正值校正后运行;

d):对所述电机进行检测;

e):控制所述电机按所有的各组相位校正值运行并检测后,从多组相位校正值中找出与电机对应的相位校正值或相位校正值的相关量,并控制所述电机按对应的相位校正值校正后运行。

2.一种控制方法,能够用于带电机与控制装置的系统,所述控制装置存储或预设有所述电机运行时针对各运行参数可能的最小相位校正值和最大相位校正值或最小相位差至最大相位差,或者所述控制装置存储或预设有所述电机运行时针对各运行参数可能的最小相位校正值的相关量和最大相位校正值的相关量;

所述控制方法在所述电机运行时包括以下步骤:

a):获取与运行参数相对应的所述电机可能的最小相位校正值至最大相位校正值或最小相位差至最大相位差或最小相位校正值的相关量至最大相位校正值相关量;

b):在最小相位校正值至最大相位校正值范围细分为多组或在最小相位差至最大相位差范围细分为多组或者将最小相位校正值的相关量至最大相位校正值的相关量范围细分为多组;

c):控制所述电机按多组的其中某一组相位校正值校正后运行;

d):对所述电机进行检测;

e):控制所述电机按所有的各组相位校正值运行并检测后,从多组相位校正值中找出与当前的运行参数对应的相位校正值或相位差或相位校正值的相关量,并控制所述电机按对应的相位校正值校正后运行。

3.一种控制方法,能够用于带电机与控制装置的系统,所述控制装置存储或预设有所述电机的最小相位校正值和最大相位校正值或最小相位差和最大相位差或最小相位校正值的相关量和最大相位校正值的相关量,或所述控制装置存储或预设有所述电机运行时针对各运行参数可能的最小相位校正值和最大相位校正值或最小相位差和最大相位差或者最小相位校正值的相关量和最大相位校正值的相关量;

所述控制方法在所述电机运行时包括以下步骤:

a):获取最小相位校正值和最大相位校正值或最小相位差和最大相位差或最小相位校正值的相关量和最大相位校正值的相关量;或者根据运行参数,获取与运行参数相对应的所述电机可能的最小相位校正值至最大相位校正值或或最小相位差和最大相位差或最小相位校正值的相关量至最大相位校正值相关量;

b):在最小相位校正值至最大相位校正值范围细分为(K+1)组或者在最小相位差至最大相位差范围细分为(K+1)组或将最小相位校正值的相关量至最大相位校正值的相关量范围细分为(K+1)组,K为整数,K≥3,定义k为相位校正值的计数组数,k从0到K或从1到(K+1);

c):控制所述电机按第k组相位校正值校正后运行;

d):检测所述电机的电流或输入功率或相位差;

e1):控制所述电机按细分的(K+1)组相位校正值校正运行并检测后,从(K+1)组相位校正值中找出与所述运行参数对应的相位校正值或相位差或相位校正值的相关量;

e2):控制所述电机按e1)找出的对应的相位校正值校正后运行;

f):判断运行参数是否发生改变,如果不是,控制所述电机按当前的相位校正值校正后运行或转e2);如果是,返回上述步骤a),或者判断e2)运行时间是否已达到预设运行时间,如果不是,控制所述电机按当前的相位校正值校正后运行或转e2);如果是,返回上述步骤a)。

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