[发明专利]一种颗粒物化学组分测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910413206.X 申请日: 2019-05-17
公开(公告)号: CN110018090B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 王炜罡;张人一;彭超;刘明元;葛茂发 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 丛洪杰;和欢庆
地址: 100190 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 颗粒 物化 组分 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,包括依次连接的荷电单元、富集单元、热解吸单元和检测单元;

所述荷电单元包括荷电器,用来使颗粒物带电;

所述富集单元通过电富集来富集带电的颗粒物;

所述富集单元包括移动杆、富集部和收集腔;

所述富集部也带电,所述富集部所带电荷的电性与颗粒物所带电荷电性相反;

所述移动杆的一端位于所述收集腔外,另一端与所述富集部连接,并置于所述收集腔内;

所述收集腔设有第一出气口,所述第一出气口通过第一流量控制器与抽气装置连接,所述收集腔与所述荷电器连通;

所述富集单元还包括用于使所述富集部带电的高压电源、用于使所述富集部上的颗粒物热解的解吸电源和切换开关,所述富集部、所述高压电源和所述解吸电源均与所述切换开关连接,所述切换开关用于实现所述高压电源和所述解吸电源之间的切换;

所述解吸电源能够将所述富集部加热至1000℃;

所述高压电源和所述富集部的数量均为两个,每个富集部分别连接一个高压电源,且两个高压电源采用不同的高压模式,两个富集部分别富集不同带电类型的颗粒物;

所述抽气装置之后设有用来回收未被富集的颗粒物的回收装置,所述回收装置与所述收集腔连通。

2.根据权利要求1所述的颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,所述颗粒物化学组分测量系统还包括保护单元,所述保护单元包括鞘气腔和用于向鞘气腔供气的第一气源,所述第一气源的出气口与所述鞘气腔的进气口连接,鞘气腔的一部分置于收集腔内,所述富集部置于鞘气腔外。

3.根据权利要求1所述的颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,所述荷电单元还包括用来筛选设定粒径颗粒的筛选器,所述筛选器设于所述荷电器和所述收集腔之间。

4.根据权利要求1所述的颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,所述收集腔还设有第二出气口,所述第二出气口与颗粒物计数器连接。

5.根据权利要求1所述的颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,所述热解吸单元包括解吸腔,所述解吸腔分别与所述收集腔和所述检测单元连通,所述富集部能够进入所述解吸腔。

6.根据权利要求5所述的颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,所述解吸腔设有载气口,所述解吸单元还包括第二流量控制器和第二气源,所述第二流量控制器位于所述第二气源和所述载气口之间。

7.根据权利要求5所述的颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,所述收集腔和所述解吸腔之间设有阀体。

8.一种颗粒物化学组分测量方法,其特征在于,使用权利要求1-7任一项所述的测量系统,包括以下步骤:

(1)颗粒物进入荷电器后带电;

(2)带电颗粒物进入富集单元电富集;

(3)富集的颗粒物热分解为气体;

(4)热分解得到的气体进入检测单元检测。

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