[发明专利]存储器控制器和包括存储器控制器的存储装置在审
申请号: | 201910413995.7 | 申请日: | 2019-05-17 |
公开(公告)号: | CN110968473A | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 姜南旭 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F3/06 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张川绪;姜长星 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 控制器 包括 存储 装置 | ||
公开了存储器控制器和包括存储器控制器的存储装置。所述存储装置包括:非易失性存储器,包括多个存储器组;以及存储器控制器,被配置为:从所述多个存储器组之中确定监测组,从包括在监测组中的多个块之中确定监测块,以及在监测组的故障之前,通过使用虚设数据监测监测块来确定监测组是否是故障组。
本申请要求于2018年10月1日提交到韩国知识产权局的第10-2018-0117106号韩国专利申请的权益,所述韩国专利申请的公开通过引用整体包含于此。
技术领域
本发明构思的示例实施例涉及存储装置。例如,至少一些示例实施例涉及能够预先检测故障组(fail group)的存储器控制器和/或包括该存储器控制器的存储装置。
背景技术
作为非易失性存储器的闪存即使在电源被切断时也可保持存储的数据。近来,包括闪存的存储装置(诸如,固态驱动器(SSD)、存储卡等)已被广泛使用。一些非易失性存储器可能由于各种原因而暴露于累进式故障,因此,包括在非易失性存储器中的裸片中的一些可被确定为故障裸片(fail die)或失效裸片(failure die)。这里,故障裸片可表示由于在裸片中产生的坏块的数量超过参考数量而不能执行与裸片中的保留块进行块替换的裸片。
发明内容
本发明构思的示例实施例提供一种能够预先检测包括在非易失性存储器装置中的故障组的存储器控制器和/或包括该存储器控制器的存储装置。
根据本发明构思的示例实施例,提供一种存储装置,包括:非易失性存储器,包括多个存储器组;以及存储器控制器,被配置为:从所述多个存储器组之中确定监测组,从包括在监测组中的多个块之中确定监测块,以及在监测组的故障之前,通过使用虚设数据监测监测块来确定监测组是否是故障组。
根据本发明构思的另一示例实施例,提供一种存储器控制器,包括:存储器;以及处理器,被配置为:从多个存储器组之中确定监测组,其中,监测组包括坏块和健康块中的一个或多个,从包括在监测组中的多个块之中确定监测块,监测监测块以确定监测块是坏块中的一个还是健康块中的一个,基于包括在监测组中的坏块的数量来确定监测组是否是故障组,以及将健康块中的一个分配为用于对用户数据进行的存储器操作的用户块。
根据本发明构思的另一示例实施例,提供一种存储器控制器,包括:存储器,存储与多个存储器组中的不同的存储器组对应的多个块状态表;以及处理器,被配置为:从所述多个存储器组之中确定监测组,从包括在监测组中的多个块之中确定监测块,使用虚设数据监测监测块以生成结果,基于所述结果从所述多个块状态表之中更新与监测组对应的第一块状态表,以及在监测组的故障之前,基于第一块状态表来确定监测组是否是故障组。
附图说明
从下面结合附图的详细描述,本发明构思的示例实施例将被更清楚地理解,其中:
图1是示出根据本发明构思的示例实施例的存储系统的框图;
图2示出根据本发明构思的示例实施例的监测块的示例;
图3是示出根据本发明构思的示例实施例的存储器控制器的框图;
图4是示出根据本发明构思的示例实施例的存储器控制器的框图;
图5是示出根据本发明构思的示例实施例的预先检测故障组的方法的流程图;
图6示出根据本发明构思的示例实施例的确定监测组的操作的示例;
图7示出根据本发明构思的示例实施例的确定监测块的操作的示例;
图8A示出根据本发明构思的示例实施例的对监测块执行的监测操作的示例,图8B示出根据本发明构思的示例实施例的对监测块执行的状态确定操作的示例;
图9是示出根据本发明构思的示例实施例的确定监测组的方法的流程图;
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