[发明专利]一种目标检测方法、装置及计算机可读存储介质在审
申请号: | 201910414474.3 | 申请日: | 2019-05-17 |
公开(公告)号: | CN111951211A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 张毅飞;王晓霞;王志成 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/73 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 黄灿;姜精斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 目标 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种目标检测方法,其特征在于,包括:
获取多个候选模板,每个候选模板包括有多个模板特征点及其特征方向,不同的候选模板对应于不同的目标姿态;
从待检测图像中提取图像特征点及其特征方向;
针对所述待检测图像中的每个待匹配的位置点,分别计算得到每个所述候选模板在该位置点的匹配度,并将最大匹配度的候选模板的目标姿态以及匹配度,作为所述目标位于该位置点的目标姿态和匹配度。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,计算第一候选模板在第一位置点的匹配度,包括:
基于预设变形率、特征点间的方向和距离,查找所述第一候选模板上的每个模板特征点所对应的图像特征点;
遍历所述第一候选模板上的每个模板特征点,针对当前遍历的第一模板特征点,根据该第一模板特征点与对应的第一图像特征点的几何相似性,计算该第一模板特征点的局部匹配度;根据该第一模板特征点的全局描述子与第一图像特征点的全局描述子之间的相似性,计算该第一模板特征点的全局匹配度;
根据所述第一候选模板的每个模板特征点的局部匹配度和全局匹配度,计算得到所述第一候选模板在所述第一位置点的匹配度。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在计算得到所述待检测图像中的每个待匹配的位置点的目标姿态和匹配度之后,还包括:
通过聚类算法,对所述每个待匹配的位置点的匹配度进行聚类处理,获得至少一个聚类中心点,将所述聚类中心点对应的匹配度和目标姿态,作为目标检测结果进行输出。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,查找所述第一候选模板上的每个模板特征点所对应的图像特征点的步骤,包括:
针对所述第一候选模板上的第二模板特征点,从所述图像特征点中筛选出第一类图像特征点,所述第一类图像特征点与所述第二模板特征点的特征方向之间的夹角小于第一门限,且与所述第二模板特征点之间的距离小于第二门限,其中,所述第一门限与所述变形率指示的变形程度正相关,所述第二门限与所述变形率指示的变形程度正相关;
从所述第一类图像特征点中选择出梯度值最大的图像特征点,作为所述第二模板特征点对应的图像特征点。
5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,查找所述第一候选模板上的每个模板特征点所对应的图像特征点的步骤,包括:
针对所述第一候选模板上的第三模板特征点,从所述图像特征点中筛选出第二类图像特征点,所述第二类图像特征点的梯度值大于一梯度阈值,且位于第一区域内,并与所述第三模板特征点的特征方向之间的夹角小于第三门限,所述第一区域是与所述第三模板特征点之间的距离小于第四门限的区域;其中,所述第三门限与所述变形率指示的变形程度正相关,所述第四门限与所述变形率指示的变形程度正相关;
从所述第二类图像特征点中选择出与所述第三模板特征点之间的距离最小的图像特征点,作为所述第三模板特征点对应的图像特征点。
6.如权利要求2所述的方法,其特征在于,计算该第一模板特征点的局部匹配度的步骤,包括:
计算该第一模板特征点与第一图像特征点之间的第一距离,生成第一距离参数,所述第一距离参数与所述第一距离负相关;
计算第一模板特征点与第一图像特征点的特征方向之间的第一夹角,生成第一夹角参数,所述第一夹角参数与所述第一夹角负相关;
对所述第一距离参数和第一夹角参数进行加权求和,得到该第一模板特征点的局部匹配度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910414474.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。