[发明专利]NAND闪存测试治具

权利要求书

1.一种NAND闪存测试治具，其特征在于，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的M Key连接器，所述至少一TSOP48端子板、所述对应个数的M Key连接器和与每一M Key连接器连接的所述通讯接口均设置在所述线路板上，每一所述TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚，所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到对应的M Key连接器；

各所述TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；

各所述M Key连接器分别用于可拆卸地连接与所述待测试NAND闪存芯片对应的主控板；

所述通讯接口用于连接测试用终端，以使所述测试用终端通过各所述主控板测试各自对应的待测试NAND闪存芯片。

2.根据权利要求1所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，每一所述TSOP48端子板的结构相同，所述TSOP48端子板中的所述读/写功能扩展定义引脚和所述至少一片选功能扩展定义引脚均连接到所述M Key连接器相应的键位引脚。

3.根据权利要求2所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述读/写功能扩展定义引脚为每一所述TSOP48端子板的第3引脚。

4.根据权利要求3所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述片选功能扩展定义引脚的个数为四个，所述四个片选功能扩展定义引脚分别为每一所述TSOP48端子板的第21引脚、第22引脚、第26引脚和第27引脚。

5.根据权利要求4所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述第21引脚对应于叠层数为5的NAND闪存芯片的片选功能引脚；

所述第22引脚对应于叠层数为6的NAND闪存芯片的片选功能引脚；

所述第26引脚对应于叠层数为7的NAND闪存芯片的片选功能引脚；

所述第27引脚对应于叠层数为8的NAND闪存芯片的片选功能引脚。

6.根据权利要求2所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，每一所述M Key连接器的类型相同，所述M Key连接器采用A键、B键、M键或E键的M Key连接器。

7.根据权利要求6所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，所述M Key连接器为M键的MKey连接器，所述片选功能扩展定义引脚的个数为四个，

所述读/写功能扩展定义引脚连接所述M键的M Key连接器的第17引脚；所述四个片选功能扩展定义引脚分别连接所述M键的M Key连接器的第12引脚、第14引脚、第16引脚和第18引脚。

8.根据权利要求1所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，各所述TSOP48端子板和各所述M Key连接器的插槽端分别位于所述线路板的正面和反面。

9.根据权利要求1所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，还包括：设置在所述线路板上的至少一测试底座，每一所述TSOP48端子板对应一所述测试底座，所述测试底座可拆卸连接在所述TSOP48端子板上，所述测试底座用于装载对应的待测试NAND闪存芯片。

10.根据权利要求1所述的NAND闪存测试治具，其特征在于，还包括：设置在所述线路板上的至少一开关，每一所述TSOP48端子板对应一所述开关，所述开关用于接通或断开对应的TSOP48端子板的电源。