[发明专利]一种双列单晶中子分析器单元

权利要求书

1.一种双列单晶中子分析器单元，其特征在于，包括：

底板(70)，用于定位在光路系统中；

分析器支架(10)，设置在所述底板(70)上且呈音叉形；

第一列单晶(20)，设置在所述分析器支架(10)的前侧；

第二列单晶(30)，设置在所述分析器支架(10)的后侧。

2.根据权利要求1所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，在所述底板(70)上设置有梯形燕尾导轨(50)，所述梯形燕尾导轨(50)上沿长度方向间隔开设有多个销孔；

所述分析器支架(10)包括：

底座(13)，所述底座(13)的底部形成有与所述梯形燕尾导轨(50)相配合的梯形燕尾槽(17)；

第一侧板(11)和第二侧板(12)，所述第一侧板(11)和第二侧板(12)关于所述底座(13)的长度方向平行对称设置在所述底座(13)上，且所述第一侧板(11)和第二侧板(12)倾斜向上延伸；

第一列单晶槽(14)，形成于所述第一侧板(11)和第二侧板(12)的前斜面；

第二列单晶槽(15)，形成于所述第一侧板(11)和第二侧板(12)的后斜面；

定位销孔(16)，开设在位于所述第一侧板(11)和第二侧板(12)之间的所述底座(13)上；

所述第一列单晶(20)和第二列单晶(30)分别依次对称定位在所述分析器支架(10)的第一列单晶槽(14)和第二列单晶槽(15)中，所述分析器支架(10)通过所述梯形燕尾槽(17)安装在所述梯形燕尾导轨(50)上，第一定位销轴(60)穿过所述分析器支架(10)的定位销孔(16)和所述梯形燕尾导轨(50)的销孔，以确定所述分析器支架(10)相对所述梯形燕尾导轨(50)沿着光路方向的位置。

3.根据权利要求2所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，两个以上所述分析器支架(10)相互对称地安装在所述梯形燕尾导轨(50)上。

4.根据权利要求2所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，所述分析器支架(10)上的所述第一列单晶槽(14)的数量为奇数，所述第二列单晶槽(15)的数量为偶数，且所述第二列单晶槽(15)的数量比所述第一列单晶槽(14)的数量多一个，所述第一列单晶槽(14)和第二列单晶槽(15)自上而下从前向后均呈交错结构。

5.根据权利要求1所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，所述第一列单晶(20)和第二列单晶(30)的两端分别用一个单晶压盖(40)通过螺钉固定在所述分析器支架(10)上，所述单晶压盖(40)呈倒L型，采用含硼橡胶材料加工而成。

6.根据权利要求1所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，所述底板(70)呈前窄后宽的扇形，所述底板(70)的前端具有一圆柱销孔，后端具有一长销孔，所述底板(70)通过穿过其前端圆柱销孔的第二定位销轴(80)和穿过其后端长销孔的第三定位销轴(90)，以将所述底板(70)定位在整个光路系统中。

7.根据权利要求2所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，以所述分析器支架(10)的底面为基准，所述第一列单晶槽(14)和第二列单晶槽(15)的角度精度为±0.01°，位置精度为±0.01mm，直线度精度为0.004mm；所述梯形燕尾槽(16)和梯形燕尾导轨(50)的对称度精度为±0.01mm，平面度精度为0.008mm。

8.根据权利要求2所述的双列单晶中子分析器单元，其特征在于，所述分析器支架(10)的第一侧板(11)和第二侧板(12)的内侧距离比所述第一列单晶(20)和第二列单晶(30)的长度小4mm，所述第一侧板(11)和第二侧板(12)的厚度为6mm。