[发明专利]多平板试样表面打磨抛光装置和方法

说明书

本发明提供一种多平板试样表面打磨抛光装置和方法，其中装置包括：一底座、至少一打磨抛光组件和一传动组件；所述底座形成至少一试样放置区，每一所述试样放置区包括沿不同方向并沿同一中心布设的复数组试样放置槽组，每一所述试样放置槽组包括多个试样放置槽；所述传动组件连接于所述底座并与各所述打磨抛光组件传动连接，所述打磨抛光组件部分紧贴所述试样放置槽组。本发明的一种多平板试样表面打磨抛光装置和方法，可实现任意角度磨抛，且可同时进行多个试样的磨抛，放置要求低，可任意角度放置。

技术领域

本发明涉及土木材料的抛光装置领域，尤其涉及一种多平板试样表面打磨抛光装置和方法。

背景技术

金相制备技术是金属材料微观组织观察和分析的重要环节。快速高效地制备出合格的金相试样是研究人员所盼望的。为观察金相显微组织，一般对试样进行切割、镶嵌制备成金相试样，然后对表面进行打磨处理。目前实验室对金相试样打磨主要采用两种方法，一种为采用砂纸进行手工打磨，由于试样较小且不规整，手工打磨时间较长且试样没有限位装置，容易导致手指酸累、试样表面出现多个平面或者曲面和存在许多较深划痕等问题，这及不利于显微组织的观察；另一种为采用台式金相打磨机打磨，这种打磨设备较大型且费用高，不能随意移动灵活使用，并且比较浪费能源。因此，设计出小型便携的金相试样打磨设备，能提高金相制备质量和效率，降低学生和研究者等的劳动力。

目前手动的打磨抛光设备及方法都是针对块状金相试样，如专利号为ZL201821338126.X的实用新型专利，而无法实现对条状的金相试样打磨抛光。同时目前的手动磨抛设备往往只能单一方向磨抛，如专利号为ZL201820751107.3的实用新型。手动磨抛又存在一次只能对一个试样进行磨抛效率低下的问题。

发明内容

针对上述现有技术中的不足，本发明提供一种多平板试样表面打磨抛光装置和方法，可实现任意角度磨抛，且可同时进行多个试样的磨抛，放置要求低，可任意角度放置。

为了实现上述目的，本发明提供一种多平板试样表面打磨抛光装置，包括一底座、至少一打磨抛光组件和一传动组件；所述底座形成至少一试样放置区，每一所述试样放置区包括沿不同方向并沿同一中心布设的复数组试样放置槽组，每一所述试样放置槽组包括多个试样放置槽；所述传动组件连接于所述底座并与各所述打磨抛光组件传动连接，所述打磨抛光组件部分紧贴所述试样放置槽组。

优选地，所述底座形成多个所述试样放置区和复数个所述打磨抛光组件。

优选地，每一所述打磨抛光组件包括一滑块、一导向板和一连杆；所述导向板架设于一所述试样放置区上方，且所述导向板形成一导向槽，所述滑块通过所述连杆与所述传动组件传动可沿所述导向槽长度方向往复运动地穿设于所述导向槽内；所述滑块的底部固定有一打磨抛光层，所述打磨抛光层与所述试样放置槽组紧贴配合。

优选地，所述传动组件包括一转轴、一转盘和一摇杆；所述转轴连接所述底座，各所述试样放置区环绕所述转轴布设；所述转盘与所述转轴枢接；所述摇杆连接于所述转盘的外侧；所述滑块的顶部形成一圆柱凸起，所述连杆的第一端与对应所述滑块的所述圆柱凸起枢接；所述连杆的第二端与所述摇杆枢接。

优选地，所述转盘的上表面的外侧沿轴向形成一摇杆安装孔，且所述转盘的外侧弧面形成与所述摇杆安装孔连通的第一定位孔，摇杆安装孔的孔径与所述摇杆配合，所述摇杆插设于所述摇杆安装孔中，且所述摇杆的侧面形成与所述第一定位孔配合的第二定位孔；所述摇杆通过插设于所述第一定位孔和所述第二定位孔的一销钉与所述转盘连接。

优选地，每一所述试样放置区的外围形成有至少一限位槽，所述导向板的底部形成多个限位脚；所述导向板通过所述限位脚插设于所述限位槽内。

优选地，每一所述试样放置区的外围形成有环形的一所述限位槽，且所述限位槽的中心与所述试样放置槽组的中心重合。

优选地，所述试样放置槽组的中心与所述转轴的连线与所述试样放置槽组的长度方向呈夹角。