[发明专利]光学镜头测试自动换盘设备在审

专利信息
申请号: 201910420030.0 申请日: 2019-05-20
公开(公告)号: CN110255112A 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 贾金星 申请(专利权)人: 江苏光腾光学有限公司
主分类号: B65G37/00 分类号: B65G37/00;B65G47/52;B65G47/24;G01M11/00
代理公司: 淮安市科文知识产权事务所 32223 代理人: 廖娜
地址: 223300 江苏省淮*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 原盘 测试盘 中转盘 上料 供料仓 回收仓 流道 下料流道 光学镜头 自动换盘 盘旋 光学器件制造 测试 测试光学 机构设置 自动仓储 自动校正 衔接处 背靠 仓门 反转 供料 龙门 三轴 正对 镜头 衔接
【权利要求书】:

1.一种光学镜头测试自动换盘设备,其特征在于,包括依次设置在基座(1)上的原盘供料仓(2)、原盘上料流道(3)、双组背靠式三轴龙门组件(4)、中转盘供料仓(5)、第一双盘旋转机构(6)、原盘回收仓(7)、测试盘供料仓(8)、第二双盘旋转机构(9)、中转盘回收仓(10)、测试盘下料流道(11)和测试盘回收仓(12);所述原盘上料流道(3)的前端正对所述原盘供料仓(2)的仓门设置,末端与所述测试盘下料流道(11)的前端衔接;所述双组背靠式三轴龙门组件(4)设置在所述原盘上料流道(3)与所述测试盘下料流道(11)的衔接处;所述中转盘供料仓(5)与所述原盘回收仓(7)分别设置在所述原盘上料流道(3)的两侧,所述第一双盘旋转机构(6)设置在所述中转盘供料仓(5)与所述原盘回收仓(7)之间、所述原盘上料流道(3)的两侧;所述测试盘供料仓(8)与所述中转盘回收仓(10)分别设置在所述测试盘下料流道(11)的两侧,所述第二双盘旋转机构(9)设置在所述测试盘供料仓(8)与所述中转盘回收仓(10)之间、所述原盘上料流道(3)的两侧;所述测试盘下料流道(11)的末端正对所述测试盘回收仓(12)的仓门设置。

2.根据权利要求1所述的光学镜头测试自动换盘设备,其特征在于,还包括原盘上料机构(13)、中转盘上料机构(14)、原盘下料机构(15)、测试盘上料机构(16)、中转盘下料机构(17)和测试盘下料机构(18),所述原盘上料机构(13)设置在所述原盘上料流道(3)的前端,所述中转盘上料机构(14)正对所述中转盘供料仓(5)的仓门设置,所述原盘下料机构(15)正对所述原盘回收仓(7)的仓门设置,所述测试盘上料机构(16)正对所述测试盘供料仓(8)的仓门设置,所述中转盘下料机构(17)正对所述中转盘回收仓(10)的仓门设置,所述测试盘下料机构(18)设置在所述测试盘下料流道(11)的末端。

3.根据权利要求2所述的光学镜头测试自动换盘设备,其特征在于,所述原盘上料机构(13)、中转盘上料机构(14)、原盘下料机构(15)、测试盘上料机构(16)、中转盘下料机构(17)和测试盘下料机构(18)具有相同的结构,均包括支架(19)、夹持轨道(20)、第一顶升求心定位机构(21)、驱动气缸(22)、滑块(23)和滑轨(24),所述夹持轨道(20)、所述滑轨(24)以及所述驱动气缸(22)均固定在所述支架(19)上,所述滑轨(24)位于所述夹持轨道(20)下方,所述滑块(23)与所述滑轨(24)滑动连接,所述第一顶升求心定位机构(21)固定在所述滑块(23)上,所述夹持轨道(20)固定在所述第一顶升求心定位机构(21)上,所述滑块(23)同时固定在所述驱动气缸(22)的伸缩杆上。

4.根据权利要求3所述的光学镜头测试自动换盘设备,其特征在于,所述原盘上料机构(13)、中转盘上料机构(14)、原盘下料机构(15)、测试盘上料机构(16)、中转盘下料机构(17)和测试盘下料机构(18)中还均包括固定在所述支架(19)上的上限位机构(25)和下限位机构(26)以及固定在所述夹持轨道(20)上的夹持限位块(27),所述上限位机构(25)和下限位机构(26)分别位于所述第一顶升求心定位机构(21)的上方和下方,所述夹持限位块(27)距离所述夹持轨道(20)的进料端的距离为一个托盘的长度。

5.根据权利要求1所述的光学镜头测试自动换盘设备,其特征在于,所述原盘供料仓(2)、中转盘供料仓(5)、原盘回收仓(7)、测试盘供料仓(8)、中转盘回收仓(10)以及测试盘回收仓(12)具有相同的结构,均包括上下多层式仓体(28)、伺服电机(29)和直线模组(30),所述直线模组(30)竖直固定在所述基座(1)上,所述上下多层式仓体(28)的外壁滑动连接在所述直线模组(30)上,所述伺服电机(29)固定在所述直线模组(30)顶部,其输出轴与所述上下多层式仓体(28)的外壁固定连接,用于驱动所述上下多层式仓体(28)沿所述直线模组(30)上下移动;在所述上下多层式仓体(28)的内部上下嵌插有多层原盘、中转盘或测试盘。

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