[发明专利]免疫地面干扰机区域的双基SAR抗干扰性能评估方法

说明书

本发明公开了一种免疫地面干扰机区域的双基SAR抗干扰性能评估方法，解决了双基SAR系统构型抗干扰性能评估的问题。实现步骤：构造干扰机可能分布区域矩阵；分解得到影响双基SAR接收机中干信比大小的总影响因子；计算最大可检测干信比下的最大干扰能量总影响因子；分别构造干扰机天线增益影响因子矩阵、双基SAR接收机天线增益影响因子矩阵、干扰机与双基SAR接收机距离影响因子矩阵；生成总影响因子矩阵；免疫地面干扰机区域计算；完成抗干扰性能评估。本发明创造性提出免疫地面干扰机区域，免疫地面干扰机区域越大则抗干扰性能越好。只需少量双基SAR构型基础信息进行抗干扰性能评估，无需成像算法，节约时间成本。用于评估双基SAR系统构型的抗干扰性能。

技术领域

本发明属于雷达干扰与对抗技术领域，涉及双基SAR中发射机接收机分置的抗干扰技术，具体是一种免疫地面干扰机区域的双基SAR抗干扰性能评估方法。用于计算双基SAR系统对地面干扰机免疫的区域，进而提供评估双基SAR系统构型抗干扰性能的依据。

背景技术

合成孔径雷达(SAR)是利用合成孔径技术的高分辨率成像雷达，而双基SAR是指发射机和接收机分置的SAR系统，因为其拥有隐蔽性强、抗干扰性能优越、可以获取大量地面前向散射系数等优点，应用前景广泛。在其成像环境中，往往存在军事对抗，致使回波掺杂干扰信号，进而导致成像出现假目标或者无法成像，因此对抗干扰十分必要；其中双基SAR的系统构型所带来的抗干扰能力起到极大的积极作用，而不同的双基系统构型抗干扰能力存在差异，因此评估双基SAR系统构型的抗干扰性能也十分必要。

针对评估双基SAR系统构型的抗干扰性能这一问题，现有方法一般延用针对单基SAR系统构型的情况，多以假定干扰机位置为基础，对待评估的双基SAR系统构型，计算信号处理后的干信比，进而评估抗干扰性能，又或者在雷达成像之后通过计算点目标的峰值旁瓣比、积分旁瓣比、主旁瓣增益比、方差等指标进行抗干扰性能评估，这些现有方法都属于信号分析的角度。但是，由于双基SAR系统构型带来的抗干扰性能与干扰机的位置密切相关，属于空间分布信息带来的抗干扰性能，显然现有方法无法描述由双基SAR系统构型带来的抗干扰性能；其次，随着对抗日趋激烈，干扰机阵列的出现使得干扰环境越来越复杂，依照单一干扰机位置评估双基SAR系统构型抗干扰性能的方法难以适用于当下复杂的干扰环境，有失一般性；另外现有的抗干扰性能评估方法都必须在完成成像算法之后再进行抗干扰评估，如果此时抗干扰性能不理想需要改变系统构型，重新设计成像算法，耗费时间成本。

在双基SAR领域中，客观上需要一种在不失一般性的基础上，能够在建立优良抗干扰性能双基SAR系统构型的过程中提供更加有效、全面、超前评估依据的方法。

发明内容

针对现有技术中双基SAR系统构型抗干扰性能评估方法不理想这一问题，本发明提出一种更加有效、全面、超前的免疫地面干扰机区域的双基SAR抗干扰性能评估方法。

本发明是一种免疫地面干扰机区域的双基SAR抗干扰性能评估方法，其特征在于，包括有以下步骤：

步骤1，构造干扰机可能分布区域矩阵：输入待评估双基SAR系统构型，以该雷达系统照射场景中心为中心，边长为3-4倍该雷达系统接收机到该雷达照射中心水平距离，构造一个矩形地面干扰机可能分布区域，并对此区域均匀离散化，构造干扰机可能分布区域矩阵；

步骤2，分解得到影响双基SAR接收机中干信比大小的总影响因子：依据进入双基SAR接收机回波能量公式，推导双基SAR接收机干信比公式，即干扰能量与有用信号能量之比公式，将此公式进行变换，分解出一个受地面干扰机位置影响的影响项，也就是总影响因子；

步骤3，计算最大可检测干信比下的最大干扰能量总影响因子：输入雷达最大可检测干信比，即雷达最大可检测干扰能量与有用信号能量之比，利用推导出的双基SAR接收机干信比公式，计算得到在满足进入双基SAR接收机中干信比小于雷达最大可检测干信比情况下的最大干扰能量总影响因子；