[发明专利]激光巴条检测系统

说明书

本申请涉及一种激光巴条检测系统。激光巴条检测系统包括光接收装置、图像采集装置、控制装置、位置调整装置和检测装置。控制装置控制图像采集装置采集激光巴条的表面图像。控制装置根据表面图像判断激光巴条的表面的光洁度是否合格。控制装置根据判断结果确定是否发出位置指令。所述激光巴条检测系统对激光巴条进行初次筛选，筛选出表面图像的光洁度合格的激光巴条。控制装置控制位置调整装置自动将激光巴条移动至光电检测工位。控制装置通过检测装置采集单管的发光功率信号和光谱信号，并判断单管的发光功率和光谱是否合格。激光巴条检测系统通过初次筛选和自动移位，节约了激光巴条的检测时间，提高了激光巴条的大批量筛选效率。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别是涉及一种激光巴条检测系统。

背景技术

半导体激光器及其阵列因其体积小、重量轻、效率高、成本低等优点已经在工业、医疗、通信、军事等诸多领域获得了广泛的应用。激光巴条是激光器阵列的基本组成单元，既可以单独应用，也可进一步组成线阵和叠阵。半导体激光器封装有巴条封装和单管封装。激光巴条封装由多个边缘发光的激光单管并排封装组成。

激光巴条在出厂之前需要对每个激光单管的进行表面检测和光电检测，筛选出合格的激光巴条。怎样提高从大批量激光巴条中的筛选出合格产品的效率是亟待解决的问题。

发明内容

基于此，有必要针对怎样提高从大批量激光巴条中的筛选出合格产品的效率的问题，提供一种激光巴条检测系统。

一种激光巴条检测系统，所述激光巴条包括多个并排排布的单管。所述激光巴条检测系统包括光接收装置、图像采集装置、控制装置、位置调整装置和检测装置。

所述图像采集装置用于采集所述激光巴条的表面图像。所述控制装置与所述图像采集装置电连接，用于控制所述图像采集装置采集所述表面图像。所述控制装置根据所述表面图像判断所述激光巴条表面的光洁度是否合格。所述控制装置根据判断结果确定是否发出位置指令。所述位置调整装置与所述控制装置电连接。所述位置调整装置用于根据所述位置指令将所述激光巴条移动至光电检测工位，以使所述控制装置与所述多个单管电连接。

所述控制装置用于控制所述多个单管选择性发射激光，并使得所述激光摄入所述光接收装置。所述检测装置与所述光接收装置电连接，用于根据所述激光生成所述单管的发光功率信号和光谱信号。所述控制装置与所述检测装置电连接，用于根据所述功率信号和所述光谱信号判断所述单管的发光功率和光谱是否合格。

在一个实施例中，所述检测装置包括功率检测装置。所述功率检测装置设置于所述光接收装置，用于根据所述激光生成所述单管的所述发光功率信号。所述控制装置与所述功率检测装置电连接，用于采集所述发光功率信号。

在一个实施例中，所述检测装置还包括光谱检测装置。所述光谱检测装置电连接于所述光接收装置和所述控制装置之间，用于根据所述激光生成所述单管的所述光谱信号，并将所述光谱信号输送给所述控制装置。

在一个实施例中，所述光接收装置包括入射口。所述激光巴条检测系统还包括负极板、限位装置、正极固定板和探针阵列。

所述负极板用于与所述单管的负极接触。所述限位装置设置于所述负极板，并形成所述光电检测工位，用于限定所述激光巴条，以使所述激光巴条的发光面与所述入射口相对设置。所述正极固定板可拆卸设置于所述负极板。所述探针阵列设置于所述正极固定板。所述探针阵列包括多个探针。所述多个探针用于与所述多个单管的正极一一对应接触。所述控制装置与所述负极板和所述多个探针电连接，用于选择性导通所述多个探针中的一个，使与所述探针接触的所述单管发射激光。