[发明专利]电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法有效

专利信息
申请号: 201910423684.9 申请日: 2019-05-21
公开(公告)号: CN110133456B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 杨帆;房占凯;卢旭;周海;余鹏;高兵;李晋贤;刘恒 申请(专利权)人: 深圳供电局有限公司;重庆大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01R27/26
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 刘小红;陈栋梁
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电缆 绝缘 低频 检测 判据 体系 构建 方法
【权利要求书】:

1.一种电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:采集现有电缆超低频介损检测的原始数据,其中包括有0.5U0、U0、1.5U0下每个测量周期的介损值,U0表示测量电缆运行的额定电压,对于10kV交流线路,电缆额定电压等级为8.7/10kV,则U0为8.7kV,并按照现有的IEEE400.2-2013超低频介损判据进行状态分级,分为正常状态、注意状态和异常状态,正常状态即无需采取检修行动,注意状态即建议进一步测试,异常状态即需要采取检修行动;

S2:对所测量得到的不同状态的电缆介损数据进行绘图分析,由于每次电缆的超低频介损测量会测量0.5U0、U0、1.5U0三个电压下多个测量周期的数据,当采用介损测量系统时,会在每个测量电压下测试8个周期的数据,因此绘制的图形是介损值随着测量次数,也是测量时间的变化规律,根据图形观察分析提取特征量;

S3:通过数据分析,提出反向介损变化率和介损极差两个介损检测判据,介损反向变化率定义为0.5U0和1.5U0的介损平均值之差(0.5U0-1.5U0),为正值;介损极差定义为在3个测试电压24个测量周期介损最大值与最小值之差,又结合Skirt判据,Skirt定义为1.5U0 下所测8个周期介损最大值与最小值之差,配合现有的介损平均值、介损变化率和介损随时间稳定性,得到超低频介损检测判据体系,共同对电缆绝缘状态进行评价。

2.根据权利要求1所述的一种电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法,其特征在于,所述IEEE 400.2-2013是《有屏蔽电力电缆系统1Hz以下超低频方法现场试验指引》中超低频电缆绝缘测试评判表为:

3.根据权利要求1所述的一种电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法,其特征在于,所述步骤S2在所测量的三种状态的电缆中,分别任意选取14条进行绘图分析介损数据变化规律,包括正常状态图、注意状态图及异常状态图,其中横坐标测量次数代表的是在进行电缆超低频介损测量时,会在0.5U0、U0和1.5U0每个电压下测量8个周期,一共24次,纵坐标为每次测量的介损值,通过对正常状态图、注意状态图及异常状态图中超低频介损测量数据的分析得到以下结论:

得出1.5U0与U0的介损变化率为负作为衡量电缆状态的一个判据。

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