[发明专利]一种快速切换式发射率测量装置及测量方法

说明书

本发明公开了快速切换式发射率测量装置及测量方法，该装置包括：源体、切换式支架、椭球镜、辐射接收单元、数据处理单元；切换式支架用于标准件和待测件的固定及标准件和待测件两者的位置快速切换；源体用于向标准件或待测件发射热辐射和冷辐射；椭球镜用于对标准件或待测件反射的热辐射和冷辐射进行聚束；辐射接收单元用于接收椭球镜聚束的热辐射或冷辐射并转化为冷热辐射电压值信号；数据处理单元用于根据冷热辐射电压值信号，计算待测件的发射率；其中，切换式支架包括旋转支座、定位底座，旋转支座设于定位底座上，旋转支座绕旋转支座的旋转轴旋转，以切换标准件和待测件两者的位置，定位底座设有定位件，定位件用于旋转支座的旋转位置定位。

技术领域

本发明属于发射率检测技术领域，尤其涉及一种快速切换式发射率测量装置及测量方法。

背景技术

微波辐射计是一种被动式的微波遥感设备,主要应用于气象、农林、地质、海洋环境监测和军事侦察等方面。它本身不发射电磁波，而是通过被动地接收被观测场景辐射的微波能量来探测目标的特性。天线接收的信号经过放大、滤波、检波和再放大后，以电压的形式给出。对微波辐射计的输出电压进行温度绝对定标，即建立输出电压与天线视在温度的关系之后，就可确定天线视在温度，也就可以确定所观测目标的亮温度。进行天线设计时通常在天线表面增加一层低发射率的微波涂层，以降低天线自身辐射信号对系统的影响。

天线涂层的发射率为保证天线工作表面涂层发射率满足使用要求，需要对涂层在工作频段内的发射率进行高精度测试，通常采用微波辐射计等效噪声温度测试方法，即通过待测件与标准件进行对比测试，以计算出待测件的发射率，其中，待测件和标准件需要人工进行更换，而且该种测试方法下试片需要多次来回切换，这种更换方式也可能造成待测件和标准件的损坏、污染、失准等测量问题。

发明内容

本发明的技术目的是提供一种快速切换式发射率测量装置及测量方法，具有简单易执行、结构简单成本低，测量精准快速的技术特点。

为解决上述问题，本发明的技术方案为：

一种快速切换式发射率测量装置，包括：源体、切换式支架、椭球镜、辐射接收单元、数据处理单元；

所述切换式支架用于标准件和待测件的固定及所述标准件和所述待测件两者的位置快速切换；

所述源体用于向所述标准件或所述待测件发射热辐射信号和冷辐射信号；所述椭球镜用于对所述标准件或所述待测件反射的热辐射信号和冷辐射信号进行聚束；所述辐射接收单元用于接收所述椭球镜聚束的热辐射信号或冷辐射信号并转化为冷热辐射电压值信号；所述数据处理单元用于根据所述冷热辐射电压值信号，计算所述待测件的发射率；其中，

所述切换式支架包括旋转支座、定位底座，所述旋转支座设于所述定位底座上，所述旋转支座绕所述旋转支座的旋转轴旋转，以切换所述标准件和所述待测件两者的位置，所述定位底座设有定位件，所述定位件用于所述旋转支座的旋转位置定位。

根据本发明一实施例，所述辐射接收单元包括馈源喇叭和接收机，所述馈源喇叭用于接收所述椭球镜聚束的热辐射信号或冷辐射信号，所述接收机用于对所述馈源喇叭接收的热辐射信号或冷辐射信号进行滤波和放大并转换为所述冷热辐射电压值信号。

根据本发明一实施例，所述源体在填充液氮稳定状态下作为冷源，所述冷源用于向所述标准件或所述待测件发射冷辐射信号，所述源体在不填充液氮稳定状态下作为热源，所述热源用于向所述标准件或所述待测件发射热辐射信号。

根据本发明一实施例，所述冷热辐射电压值信号包括所述标准件反射的第一热辐射信号电压值V_r0、第一冷辐射信号电压值V_l0和所述待测件反射的第二热辐射信号电压值V_r1、第二冷辐射信号电压值V_l1；