[发明专利]一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置

权利要求书

1.一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：包括窄线宽激光器、强度型电光调制器、单模光纤耦合器、可调光衰减器、电动光纤延迟线、待测高速光电探测器、射频开关和矢量网络分析仪；所述窄线宽激光器发出单色偏振光入射所述强度型电光调制器，所述矢量网络分析仪的输出端输出扫频的微波射频信号进入所述电光调制器；所述强度型电光调制器将微波射频信号加载到光波上而输出光载微波信号，所述光载微波信号从所述强度型电光调制器输出后经所述单模光纤耦合器后分成两路微波光子链路，分别为微波光子链路A和微波光子链路B；所述微波光子链路A路光依次经过所述可调光衰减器、所述电动光纤延迟线和所述待测高速光电探测器后通过所述射频开关的选通进入所述矢量网络分析仪的接收端；所述微波光子链路B路光依次经过所述可调光衰减器、所述电动光纤延迟线和所述待测高速光电探测器后通过所述射频开关的选通进入所述矢量网络分析仪的接收端；

测量相位响应一致性具有两种方式；

第一种方式包括以下步骤：

(1)通过所述可调光衰减器调节微波光子链路A和微波光子链路B的光强，使进入两所述待测高速光电探测器的光功率相等；

(2)通过所述电动光纤延迟线调节微波光子链路A和微波光子链路B的延时，使得两链路在某一个微波频率点相位相同；

(3)将射频开关连接待测高速光电探测器，用矢量网络分析仪测量该微波光子链路A在不同微波信号频率下的相位响应H₁；

(4)将射频开关连接待测高速光电探测器，用矢量网络分析仪测量该微波光子链路B在不同微波信号频率下的相位响应H₂；

(5)将得到的两个相位响应曲线H₁和H₂相减，便得到两个待测高速光电探测器相位一致性；

第二种方式包括以下步骤：

(1)通过所述可调光衰减器调节微波光子链路A和微波光子链路B的光强，使进入两所述待测高速光电探测器的光功率相等；

(2)通过所述电动光纤延迟线调节微波光子链路A和微波光子链路B的延时，使得两链路在某一个微波频率点相位相同；

(3)通过所述射频开关选通一路微波光子链路，通过所述矢量网络分析仪来测量该微波光子链路的相频响应并对该响应曲线进行归零处理；

(4)通过所述射频开关选通另一路微波光子链路，通过所述矢量网络分析仪来测量该微波光子链路的相频响应，该相频响应即为两个待测高速光电探测器相位一致性。

2.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述强度型电光调制器的调制信号由所述网络矢量分析仪提供；所述装置还包括调制器偏置电压控制电路，用以为所述强度型电光调制器提供直流偏置信号。

3.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述强度型电光调制器的输入端为保偏光纤，频率响应范围与所述待测高速光电探测器测试频率范围相匹配。

4.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述单模光纤耦合器的输入输出端为单模光纤，输出端的光纤端口数与所述待测高速光电探测器的数量相匹配。

5.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述可调光衰减器用以对两个微波光子链路的光强进行调节，使进入两待测高速光电探测器的光功率相等。

6.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述电动光纤延迟线用以对两个微波光子链路的延时进行调节，使得两链路在某一个微波频率点相位相同。

7.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述射频开关用以分时选通一路微波光子链路，将信号送至所述矢量网络分析仪测量该微波光子链路的相频响应。

8.如权利要求1所述的一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：所述矢量网络分析仪用以采集微波光子链路A和B的相位信息；所述装置还包括计算机，用以将所述矢量网络分析仪输出数据传送到计算机进行分析处理，从而得到所述待测高速光电探测器的相位响应一致性。