[发明专利]一种强度调制太赫兹参量源装置

权利要求书

1.一种强度调制太赫兹参量源装置，其特征在于，所述装置包括：

当激光增益大于基频光第一腔镜、第二腔镜构成的基频光谐振腔的损耗后，产生基频光，在基频光谐振腔内振荡；

非线性晶体满足SPS产生THz波的相位匹配关系，基频光通过非线性晶体产生SPS增益，当斯托克斯光的增益大于斯托克斯光第一腔镜、第二腔镜构成的斯托克斯光谐振腔的损耗时，产生斯托克斯光，在斯托克斯光谐振腔内振荡，同时产生THz波，遵从非共线相位匹配动量守恒原则，从所述非线性晶体侧面经硅棱镜耦合输出；

所述非线性晶体上下表面镀金，用导线与直流电源相连，当对晶体上下表面施加直流电压时，晶体内的感生电场改变基频光横向空间分布，改变THz波的输出功率，实现强度调制。

2.根据权利要求1所述的一种强度调制太赫兹参量源装置，其特征在于，

所述基频光第一腔镜、第二腔镜镀有对泵浦光高透、基频光高反膜系；

所述斯托克斯光第一腔镜、第二腔镜镀有对斯托克斯光高反膜系。

3.根据权利要求1所述的一种强度调制太赫兹参量源装置，其特征在于，

所述基频光晶体镀有对泵浦光和基频光增透膜系；

所述非线性晶体侧面粘有硅棱镜以减小THz波耦合输出时的损耗，所述非线性晶体镀有对基频光和斯托克斯光增透膜系。

4.根据权利要求1-3中任意权利要求所述的一种强度调制太赫兹参量源装置，其特征在于，所述装置还包括：调Q器件，

所述调Q器件是主动Q开关或可饱和吸收体，所述调Q器件镀有基频光增透膜，置于基频光谐振腔内，使基频光脉冲运转。