[发明专利]一种背光源压模缺陷检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种背光源压模缺陷检测方法及系统，涉及光学缺陷检测技术领域；该检测方法包括以下步骤：S1：设置施压装置的施压方式以及相机的取像帧率，使所述取像帧率与施压装置的施压频率适配；S2：控制所述施压装置按照所述施压方式和施压频率压覆待测背光源，同时通过所述相机连续拍摄施压装置行进过程中的多张背光源图片；S3：对所述多张背光源图片进行缺陷检测，得到待测背光源上的压模缺陷信息；本发明通过施压装置压覆的方法使背光膜层紧密贴附以表现出压模缺陷；并利用高帧率相机连续取像的效果，对压覆后的背光区域进行拍照，在压覆产生的缺陷未完全消失之前完成取像；系统结构更为简单，压模缺陷检测效果更佳。

技术领域

本发明属于光学缺陷检测技术领域，更具体地，涉及一种基于AOI的背光源压模缺陷检测方法及系统。

背景技术

在面板背光源缺陷检测中，存在着异物、气泡、划伤、毛屑以及按压亮点等各类不同类型的缺陷，导致最终LCD面板上出现类似的缺陷，这直接影响了LCD面板最终的质量和成品等级的输出结果；因此，在LCD制程的初期对背光面板上有可能出现的缺陷进行检测是至关重要的，表面缺陷检测结果直接影响了客户产品良率的控制。在上述几种缺陷中，异物、气泡、划伤、毛屑这几种缺陷可以直接通过正视相机取像拍摄，即可将缺陷显现在图片上。但是对于最后一种按压亮点缺陷，这种缺陷比较特殊，由于LCD显示器中的背光具有多层结构，对于夹在中间层的一些小颗粒灰尘或异物，当这些颗粒或异物未紧缚于任一膜层时，将不会在相机取像的图片中显现出来。只有当人工按压模层时，缺陷才会背光上显示为一个亮点，因此按压亮点缺陷也称为压模缺陷。

对于压模缺陷的检测方法，目前一种主流的方法是利用真空吸附的方法将各膜层之间的空气抽出，使得膜层与膜层之间紧密贴合；当膜层之间存在颗粒异物时，这些缺陷将会表现出来。图1所示即为真空吸附压模检测方法的示意图；但是这种缺陷检测方法存在以下缺点：一是由于背光面板的膜层层数较多，真空吸附在实现上很难完全抽出每一层的空气，因此导致缺陷检测效果不佳；二是真空吸附所采用的设备机构较为复杂，由于需要利用抽真空的方式，因此需要采用电机、压缩机等复杂结构。

发明内容

针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本发明提供了一种背光源压模缺陷检测方法及系统，基于施压装置压覆和高帧率相机连续取像来检测背光压模缺陷，利用施压装置压覆背光以使背光各膜层紧密贴附，施压装置压覆滚同时利用高速小相机连续取像，在压覆后显现的缺陷未消失之前拍摄施压装置压覆的区域，然后进行压模缺陷检测；其目的在于解决现有的压模缺陷检测方法存在的缺陷检测效果不佳、硬件结构复杂的问题。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种背光源压模缺陷检测方法，包括以下步骤：

S1：设置施压装置的施压方式以及相机的取像帧率，使所述取像帧率与施压装置的施压频率适配；

S2：控制所述施压装置按照所述施压方式和施压频率压覆待测背光源，同时通过所述相机连续拍摄施压装置行进过程中的多张背光源图片；

S3：对所述多张背光源图片进行缺陷检测，得到待测背光源上的压模缺陷信息。

优选的，上述背光源压模缺陷检测方法，其步骤S1包括以下子步骤：

S110：根据预设的施压装置的行进速度V和待测背光源的长度L计算施压装置经过整个待测背光源的时间t，t＝L/V；

S120：根据预设的单个待测背光源的取像张数N和所述时间t设置相机的取像帧率N/t。

优选的，上述背光源压模缺陷检测方法，其步骤S1包括以下子步骤：

S111：根据预设的施压装置的行进角速度ω和待测背光源的圆心角θ计算施压装置经过整个待测背光源的时间t，t＝θ/ω；

S121：根据预设的单个待测背光源的取像张数N和所述时间t设置相机的取像帧率N/t。