[发明专利]一种双芯光纤磁场传感探头在审
申请号: | 201910427031.8 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN109991562A | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 刘月明;刘玉婵;孔嘉浩 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 双芯光纤 磁流体 磁场 传感探头 刻槽 耦合模块 反射膜 光波导 上端面 纤芯 等效腔长 激光光源 腔结构 输出光 下表面 折射率 探测器 包层 粘接 测量 | ||
本发明是一种双芯光纤磁场传感探头。它包括激光光源1、耦合模块2、双芯光纤传感探头3、探测器4,所述的耦合模块2包括光波导2(1)、光波导2(2),所述的双芯光纤包括纤芯3(1)、纤芯3(2)、包层3(3)、注有磁流体的刻槽3(4)、反射膜3(5),注有磁流体的刻槽3(4)位于双芯光纤的上端面,反射膜3(5)粘接在双芯光纤的上端面,和注有磁流体的刻槽3(4)的下表面形成F‑P腔结构,当存在磁场时,磁流体的折射率发生改变,从而改变F‑P腔的等效腔长,通过输出光的变化就可以实现磁场的测量。
技术领域
本发明属于光纤传感技术领域,特别涉及一种双芯光纤磁场传感探头,其结构由激光光源、耦合模块、双芯光纤传感探头、探测器组成,以实现磁场的测量。
背景技术
磁传感器是把磁场、电流、应力应变、温度、光等外界因素引起敏感元件磁性能变化转换成电信号,以这种方式来检测相应物理量的器件。传统的磁场传感器,如霍尔传感器、磁阻传感器、磁通门传感器和磁感应线圈传感器等易于受电磁干扰,而光纤磁场传感器具有体积小、重量轻、精度高、抗电磁干扰能力强并且可以远程测量等优点。基于不同的光学原理,可制成不同类型的光纤传感器,如基于干涉型原理的光纤传感器、基于FBG原理光纤传感器等等。根据应用场合的不同,有应用于不同场合的光纤传感器,如温度型光纤传感器、折射率传感器、应力应变测量传感器以及磁场传感器等等。对于光纤传感器,目前的报道中,普通单芯光纤,即一个包层,一个纤芯,对于单芯光纤的应用比较多,尽管单芯光纤可以实现双向传输,但是由于其存在信号串扰,这使得的传感器精度不高。双芯光纤是同一个包层内包含两个纤芯的光纤,每个纤芯都是一条光波导,即一根双芯光纤中集成了两根单芯光纤,不存在信号串扰的问题,大大提高了传感器的精度。
磁流体是一种新型的纳米功能材料,既具有液体的流动性和固体物质的磁性,又具有丰富的光学性质,如磁光效应和热透镜效应。磁流体处于静态时,不表现出任何磁性;当外加磁场时,随着磁场强度的增加,磁流体的折射率也随之发生变化。所以,可以利用磁流体的磁光效应测量磁场。将双芯光纤和磁流体相结合,利用磁流体的磁光效应可以测量磁场。
双芯光纤磁场传感探头由双芯光纤和磁流体组成,这种双芯光纤比普通的单芯光纤光路简单。本发明采用双芯光纤和磁流体相结合的一种光纤磁场传感探头,来实现磁场的测量。
发明内容
本发明的目的在于提供一种双芯光纤磁场传感探头的设计方案,能实现对磁场的测量。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
本发明包括激光光源1、耦合模块2、双芯光纤传感探头3、探测器4,所述的耦合模块2包括光波导2(1)、光波导2(2),所述的双芯光纤包括纤芯3(1)、纤芯3(2)、包层3(3)、注有磁流体的刻槽3(4)、反射膜3(5),所述的激光光源1与光波导2(1)的下端耦合,光波导2(1)的上端与纤芯3(1)耦合,纤芯3(2)的上端与光波导2(2)耦合,光波导2(2)的下端与所述的探测器5耦合。如图1所示。
所述的耦合模块2,长3mm,宽3mm,高2mm。
所述的光波导2(1)的直径为4um,所述的光波导2(2)的直径为4um,光波导2(1)和光波导2(2)的上端相距62.5um,下端相距1mm。
所述的双芯光纤包层3(3)直径为125um,纤芯3(1)直径为4um,纤芯3(2)直径为4um,两纤芯间距62.5um,数值孔径为0.25。
所述的注有磁流体的刻槽3(4)是利用飞秒激光在双芯光纤的上端面刻蚀而得,长80um,宽80um,深0.3um。
所述的反射膜3(5)膜厚0.2um,粘接在双芯光纤上端面,和注有磁流体的刻槽3(4)构成一个整体,作为刻槽的上反射面和下表面形成F-P腔结构,起到密封磁流体的作用。
本发明是一种双芯光纤磁场传感探头。本发明具有测量精度高、制作简单、体积小等优点。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量大学,未经中国计量大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910427031.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。