[发明专利]样品分析系统

说明书

提供的是一种用于从使用包括从荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置以及从红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置的多个分析装置获取的目标样品的测定数据识别目标样品的样品分析系统。该系统包括：用于保存使用分析装置对于每个参照物获取的测定数据的存储部；用于对于每个分析装置，比较目标样品的测定数据与参照物的测定数据并且用于确定目标样品与每个参照物的匹配度的测定数据比对部；用于从对于分析装置确定的匹配度计算综合匹配度的综合匹配度计算部；以及用于输出关于以综合匹配度的递减次序的预定数目的参照物的信息的比对结果输出部。

本申请是申请日为2017年04月19日的第201710259756.1号，名称为“样品分析系统”的中国专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及用于通过比较目标样品的测定数据与参照物的测定数据识别目标样品的样品分析系统，其中目标样品的测定数据使用多种分析装置获取，该多种分析装置包括从都适合于无机物的分析的荧光X射线分析仪，原子吸收光度计和电感耦合等离子体发射分析仪中选择的至少一个装置，以及从都适合于有机物的分析的红外分光光度计和拉曼分光光度计中选择的至少一个装置。

背景技术

如果其中混入了乙烯基，金属或者类似的异物的食品或者类似的产品被运送至市场，产品的可信赖性将显著地降低。因此，在工厂或者类似的设施中，进行产品的污染检查。如果在产品的检查中发现了异物，则分析该异物以确定所包含物质或元素的种类，数量及其他特性。随后通过使用参照物数据库识别异物以揭示其起源以及混入路径。

适合于乙烯基或者类似的由有机物组成的异物的分析的分析装置是傅里叶变换红外分光光度计(FTIR)。在FTIR中，利用通过包括固定镜和移动镜的迈克尔逊干涉仪产生的干涉波照射异物，并且测定透射光或者反射光作为干涉图。通过傅立叶变换该干涉图，获取吸收光谱，横轴表示波数并且纵轴表示强度(例如吸光度或者透射率)。在吸收光谱上，红外吸收出现在对应于包含在异物中的各种物质的振动能或者转动能的量的波长处。因此，通过比较异物的吸收光谱图与预先存储在参照物数据库中的各种参照物的吸收光谱图，可以从包含的物质的类似性来识别异物(例如，参见专利文献1)。

另一方面，适合于金属或者类似的包含无机物的异物的分析的分析装置是能量分散型荧光X射线分析仪(EDX)。在EDX中，利用X射线照射异物以获取荧光光谱。在荧光光谱上，X射线荧光峰值出现在各元素特有的能量位置上。因此，通过在荧光光谱上确定峰值位置可以识别包含在异物中的元素。识别出的元素的量可以通过两种方法确定：FP法(基本参数法)以及校准曲线法。在FP法中，各元素的定量值通过使用具有假设的主要成分的组成的理论公式再现X射线荧光的测定强度确定(例如，参见专利文献2或者3)。与需要通过测定多个具有相同组成和已知含量的标准样品来制定校准曲线的校准曲线法相比，FP法有利在这种任务是不必要的并且分析可以被轻易地进行。通过FP法确定的定量值通常被称为“半定量值”以将其与通过校准曲线法确定的精确的定量值相区分。通过比较由FP法确定的异物中元素的半定量值与包含在预先存储于参照物数据库的各种参照物中的元素的半定量值，可以从包含的物质的类似性识别异物。

引用列表

专利文献

专利文献1：JP 2001-74650 A

专利文献2：JP 8-334481 A

专利文献3：JP 2010-223908 A

发明内容

技术问题