[发明专利]老化测试方法、可穿戴设备及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201910428045.1 申请日: 2019-05-21
公开(公告)号: CN110188010A 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: 李坤宁 申请(专利权)人: 努比亚技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518057 广东省深圳市南山区高新区北环大道9018*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试项 老化测试 可穿戴设备 计算机可读存储介质 测试参数 测试数据 测试效率 指令 测试 检测 分析
【权利要求书】:

1.一种老化测试方法,其特征在于,所述方法应用于可穿戴设备,所述方法包括以下步骤:

在检测到老化测试指令时,确定各个测试项;

获取每个测试项对应的测试参数;

根据每个测试项的所述测试参数,对每个测试项进行老化测试,得到每个测试项对应的测试数据;

对每个测试项的所述测试数据进行分析,得到每个测试项对应的测试结果。

2.如权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,所述在检测到老化测试指令时,确定各个测试项的步骤包括:

在检测到老化测试指令时,加载测试项配置界面,并在所述测试项配置界面加载测试选择项;

接收基于所述测试选择项的选择指令,根据所述选择指令确定测试项。

3.如权利要求2所述的老化测试方法,其特征在于,所述测试参数至少包括测试轮数或测试时长。

4.如权利要求3所述的老化测试方法,其特征在于,所述根据每个测试项的所述测试参数,对每个测试项进行老化测试,得到每个测试项对应的测试数据的步骤包括:

对各个测试项进行分类,得到老化测试对应功能属性的第一测试项集合和老化测试对应性能属性的第二测试项集合;

按照第一测试项集合中每个测试项对应的测试参数,对第一测试项集合中每个测试项对应的接口进行调用测试,得到第一测试项集合中每个测试项对应的测试数据;

按照第二测试项集合中每个测试项对应的测试参数,对第二测试项集合中每个测试项进行性能测试,得到第二测试项集合中每个测试项对应的测试数据。

5.如权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,所述对每个测试项的所述测试数据进行分析,得到每个测试项对应的测试结果的步骤包括:

将每个测试项的所述测试数据与相应的预设标准阈值进行比较,得到比较结果;

根据每个测试项的所述比较结果,得到每个测试项对应的测试结果。

6.如权利要求5所述的老化测试方法,其特征在于,所述对每个测试项的所述测试数据进行分析,得到每个测试项对应的测试结果的步骤之后,包括:

根据每个测试项的所述测试结果,生成测试报告。

7.如权利要求6所述的老化测试方法,其特征在于,所述根据每个测试项的所述测试结果,生成测试报告的步骤包括:

统计测试结果为未老化的测试项;

统计测试结果为老化的测试项,并确定所述老化的测试项的老化程度;

根据所述未老化的测试项,以及,所述老化的测试项及其老化程度生成测试报告。

8.如权利要求7所述的老化测试方法,其特征在于,所述确定所述老化的测试项的老化程度的步骤包括:

根据所述老化的测试项的测试数据与相应的预设标准阈值的差值,确定所述老化的测试项的老化程度。

9.一种可穿戴设备,其特征在于,所述可穿戴设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的老化测试程序,所述老化测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的老化测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有老化测试程序,所述老化测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的老化测试方法的步骤。

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