[发明专利]用于阻抗成像的频变自适应阻抗采集控制装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910428483.8 申请日: 2019-05-22
公开(公告)号: CN110141236B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 李章勇;相尚志;邓杰文;刘伟;马乾峰;王伟;冉鹏 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: A61B5/0536 分类号: A61B5/0536
代理公司: 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 代理人: 余锦曦
地址: 400065*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 用于 阻抗 成像 自适应 采集 控制 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于阻抗成像的频变自适应阻抗采集控制装置,包括电极传感模块(1)、选通模块(2)、激励源(3)、数据采集器(4)、控制器(5),所述电极传感模块(1)的工作端组与所述选通模块(2)的选通端组连接,所述选通模块(2)的激励输入端组连接激励源(3)的输出端组,所述选通模块(2)的数据输出端组连接所述数据采集器(4)的输入端组,所述选通模块(2)的控制端组连接所述控制器(5)的选通控制端组,特征在于,还包括无效电极筛选模块(6),所述无效电极筛选模块(6)的筛选输出端连接所述控制器(5)的无效电极输入端;

所述电极传感模块(1)包括m×n个电极(11),其中,m为电极层(12)层数,n为每个电极层(12)的电极(11)个数,每个所述电极(11)均经所述选通模块(2)接入所述激励源(3)的正极输出端与负极输出端、所述数据采集器(4)的第一输入端与第二输入端;

所述选通模块(2)包括对应于m个电极层(12)的m组选通单元(21),每组选通单元(21)均设置有激励正极选通芯片(21a)、激励负极选通芯片(21b)、第一数据选通芯片(21c)、第二数据选通芯片(21d),每个所述激励正极选通芯片(21a)、激励负极选通芯片(21b)、第一数据选通芯片(21c)、第二数据选通芯片(21d)均包括n个电极选通接脚;

第i组选通单元(21)中所述激励正极选通芯片(21a)的第j个电极选通接脚连接第i个电极层(12)的第j个电极(11),第i组选通单元(21)中所述激励负极选通芯片(21b)的第j个电极选通接脚连接第i个电极层(12)的第j个电极(11),第i组选通单元(21)中所述第一数据选通芯片(21c)连接第i个电极层(12)的第j个电极(11),第i组选通单元(21)中所述第二数据选通芯片(21d)的第j个电极选通接脚连接第i个电极层(12)的第j个电极(11),其中,1≤i≤m,1≤j≤n;

无效电极筛选模块(6)根据当前激励信号频率及激励电极位置确定无效电极位置,确定无效电极位置的方法如下:

T1,所述无效电极筛选模块(6)根据所述激励电极位置选取远离激励电极的正极、且距离激励电极的负极k个位置的电极(11)为筛选测试电极,1≤k≤n/2;

T2,所述控制器(5)控制选通所述筛选测试电极;

T3,所述无效电极筛选模块(6)读取所述数据采集器(4)采集的所述筛选测试电极的响应电压幅值;

若该响应电压幅值低于系统检测精度,则判定所述筛选测试电极为无效电极,且所有距离激励电极的负极小于k个位置的电极(11)均为无效电极,进入步骤T4;

否则,令k=k-1,返回步骤T1,直至新的筛选测试电极的响应电压幅值低于系统检测精度,判定新的筛选测试电极为无效电极,且所有距离激励电极的负极小于k个位置的电极(11)均为无效电极,进入步骤T4;

T4,所述无效电极筛选模块(6)将所有无效电极的编号记为无效电极位置。

2.根据权利要求1所述用于阻抗成像的频变自适应阻抗采集控制装置,特征在于,所述无效电极筛选模块(6)的电极数据输入端连接所述数据采集器(4)的输出端。

3.根据权利要求1所述用于阻抗成像的频变自适应阻抗采集控制装置,特征在于,所述控制器(5)的激励控制端连接所述激励源(3)的控制端。

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