[发明专利]MnBi2 有效
申请号: | 201910430887.0 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN111979581B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 李昊;吴扬;张跃钢;范守善 | 申请(专利权)人: | 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 |
主分类号: | C30B29/46 | 分类号: | C30B29/46;C30B9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mnbi base sub | ||
本发明涉及一种MnBi2Te4块体单晶的制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:提供摩尔比为1.1:1~1:1.1的MnTe多晶和Bi2Te3多晶混合物;将该混合物在真空反应室中加热到700℃~900℃,然后以小于等于1℃/小时的速率缓慢降温至570℃~600℃,然后在570℃~600℃保持10天以上进行退火得到中间产物;以及将中间产物在570℃~600℃条件下在空气中淬火至室温。本发明提供的制备MnBi2Te4块体单晶的方法工艺简单,成本低廉。
技术领域
本发明涉及材料技术领域,尤其涉及一种MnBi2Te4块体单晶的制备方法。
背景技术
由于MnBi2Te4被预言为首例反铁磁拓扑绝缘体(antiferromagnetic topologicalinsulator),如何制备MnBi2Te4块体单晶成为研究热点。
现有技术中提供一种采用熔剂法制备MnBi2Te4单晶材料的方法。该方法包括:首先,将Mn、Bi和Te单质按照摩尔比1:10:16混合;然后,将混合物加热至900℃,再缓慢降温至600℃得到MnBi2Te4单晶材料与Bi2Te3熔剂的混合物;最后,通过离心去除熔剂得到MnBi2Te4块体单晶。然而,由于Bi2Te3的熔点为585℃,该离心去除溶剂的步骤需要在585℃以上的条件实施,增加了 MnBi2Te4单晶材料的制备难度。
发明内容
有鉴于此,确有必要提供一种简单的制备MnBi2Te4块体单晶的方法。
一种MnBi2Te4块体单晶的制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:提供摩尔比为1.1:1~1:1.1的MnTe多晶和Bi2Te3多晶混合物;将该混合物在真空反应室中加热到700℃~900℃,然后以小于等于1℃/小时的速率缓慢降温至570℃~600℃,然后在570℃~600℃保持10天以上进行退火得到中间产物;以及将中间产物在570℃~600℃条件下在空气中淬火至室温。
相较于现有技术,本发明提供的制备MnBi2Te4块体单晶的方法工艺简单,成本低廉。
附图说明
图1为本发明提供的MnBi2Te4块体单晶的制备方法流程图。
图2为本发明实施例1制备的MnTe多晶的XRD衍射结果。
图3为本发明实施例1制备的Bi2Te3多晶的XRD衍射结果。
图4为本发明实施例2制备的MnBi2Te4块体单晶的光学显微照片。
图5为本发明实施例2制备的MnBi2Te4块体单晶的XRD衍射结果。
图6为本发明实施例3制备的MnBi2Te4块体单晶的XRD衍射结果。
图7为本发明实施例2制备的MnBi2Te4块体单晶的新鲜表面的X射线光电子能谱全谱图(XPS)。
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