[发明专利]一种(100)择优取向和高介电常数的锆钛酸铅压电薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201910430894.0 申请日: 2019-05-22
公开(公告)号: CN110092662B 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 韩梅;王力成 申请(专利权)人: 大连瑞林数字印刷技术有限公司;大连思普乐信息材料有限公司
主分类号: C04B35/491 分类号: C04B35/491;C04B35/622
代理公司: 辽宁鸿文知识产权代理有限公司 21102 代理人: 杨植
地址: 116085 辽宁省大*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 100 择优取向 介电常数 锆钛酸铅 压电 薄膜 制备 方法
【说明书】:

一种(100)择优取向和高介电常数的锆钛酸铅压电薄膜的制备方法,属于压电材料薄膜制备领域。制备步骤包括:1)将钛酸四丁酯加入乙酰丙酮里,再加入乙二醇甲醚、乙酸铅、硝酸锆和甲酰胺,并通过酸碱调节剂调节溶液PH,制备化学式为Pb1.25(ZryTi1‑y)O3和Pb1.10(ZryTi1‑y)O3的两种锆钛酸铅前驱体溶液;2)将两种锆钛酸铅前驱体溶液按照m/n的层数比循环沉积在衬底上,重复沉积至所需厚度,热处理后得到具有(100)晶粒择优取向的锆钛酸铅薄膜。采用本发明方法制备的锆钛酸铅压电薄膜具有(100)晶向取向度高、介电与铁电性能优。

技术领域

本发明属于压电材料薄膜制备领域,涉及一种(100)择优取向和高介电常数的锆钛酸铅压电薄膜的制备方法。

背景技术

压电、铁电材料锆钛酸铅(简称PZT)是属于ABO3型的钙钛矿相化合物,其化学式为Pb(ZryTi1-y)O3,在居里温度以下,当其化学组成在准同型相界附近时(即y=0.52或0.53),材料具有良好的压电、介电和铁电性能,使其在压电式喷墨打印头等微电子机械系统领域得到广泛关注。制备PZT压电薄膜的方法包括很多种,比如激光脉冲沉淀法、磁控溅射法、金属有机化学气相沉积法、化学溶液沉积法、溶胶-凝胶法等。其中,溶胶-凝胶法因具有制备周期短、化学成分控制稳定、工艺灵活简单等优点而得到广泛应用。

很多研究表明,(100)晶粒择优取向的PZT压电薄膜最适合应用于执行器中,因此为了制备(100)取向度较高的PZT压电薄膜,通常在衬底上预先溅射如SrRuO3、LaNiO3等种晶层,以此来引导PZT压电薄膜沿(100)晶向生长。然而上述方法存在价格昂贵、制备周期长等缺陷,不利于锆钛酸铅压电薄膜的实际生产和应用。

近年来,通过交替沉积形成超晶格或多层膜的方法来提高PZT介电性能的方法也备受关注。Wang等通过脉冲激光沉积方法将BaTiO3/Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(BTO/PZT)铁电超晶格生长在Nb掺杂的SrTiO3(NSTO)单晶衬底上,结果在BTO/PZT超晶格中发现漏电流显著减少,并且还观察到更对称的电滞回线。利用磁控溅射方法,中科院物理研究所的Wang等在Pt/TiO2/SiO2/Si衬底上生长Pb(Zr20Ti80)O3(四方相)/Pb(Zr80Ti20)O3(菱形相)多层结构PZT薄膜,结果在多层膜中观察到增强的介电性能。

一般制备锆钛酸铅压电薄膜时需要经过高温退火处理,退火温度过高引起薄膜中的铅元素损失或与基底材料的相互扩散,从而导致制备的PZT薄膜出现除钙钛矿结构以外的其他相结构或产生大量空位缺陷,这些都会恶化薄膜微观结构和电气性能。因此关于如何补偿薄膜在高温退火时的铅损失,学者们也进行了广泛的研究。比如 Park等人在采用磁控溅射法制作PZT薄膜时,发现靶材中PbO含量过量2%时会使薄膜出现微裂纹并呈现出(100)、(110)和(111)的混合晶向;而PbO含量过量6%,微裂纹消失且薄膜表现出强烈的(111)优选取向;进一步地增加PbO过量10%时,微裂纹和混合晶向又再次出现。然而目前为止,还未见过采用溶胶凝胶法将过量Pb比例不同的两种锆钛酸铅前驱体溶液分层交替沉积形成多层PZT薄膜的有关报道。

发明内容

为解决上述问题,本发明旨在提供一种具有(100)择优取向和高介电常数的锆钛酸铅压电薄膜的制备方法,通过本发明的方法能够制得(100)取向度高且介电性能优异的锆钛酸铅压电薄膜。

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