[发明专利]一种低功耗边界扫描测试方法

权利要求书

1.一种低功耗边界扫描测试方法，其特征在于，SOC上的每个芯片的输出端接入BSLC边界扫描发射单元，n个BSLC边界扫描发射单元中相邻两边界扫描单元的测试数据输入端SI和测试数据输出端SO依次相连，串联构成输入边界扫描链，用于向功能路径发送测试激励；每个芯片的输入端接入BSCC边界扫描捕获单元，m个BSCC边界扫描捕获单元中相邻两边界扫描单元的测试数据输入端SI和测试数据输出端SO依次相连，串联构成输出边界扫描链，用于捕获和移出测试响应；

输入边界扫描链和输出边界扫描链并行扫描移位工作，扫描测试包括非延迟测试模式和延迟测试模式两种模式，非延迟测试模式时扫描单元的Delay_enable信号为1，延时模式时扫描单元的Delay_enable信号为0；

在非延迟测试模式时，输入边界扫描链向功能路径发送测试激励的过程为：

在移位阶段，测试向量SI_LC按位依次移入输入边界扫描链，每个测试时钟周期内，所述输入边界扫描链中只有一个BSLC边界扫描发射单元的时钟可以被触发，从而接收测试向量，n个BSLC边界扫描发射单元从第1个至第n个依次完成测试向量接收，其他已完成移位操作的BSLC边界扫描发射单元均处于旁路模式，未完成移位操作的BSLC边界扫描发射单元中的触发器不能被触发；

直到测试移位操作完成后进入更新阶段，输入边界扫描链中的测试向量通过BSLC边界扫描发射单元的PO端发射到功能路径上，完成向功能路径发送测试激励的操作；

在非延迟测试模式时，输出边界扫描链捕获和移出测试响应的过程为：

在捕获阶段，BSCC边界扫描捕获单元从PI端捕获来自功能路径的上一测试过程的响应；

然后进入移位阶段，测试响应SO_CC按位依次串行移出输出边界扫描链，每个测试时钟周期内所述输出边界扫描链中只有一个BSCC边界扫描捕获单元发生状态改变，m个BSCC边界扫描捕获单元从第1个至第m个依次将测试响应SO_CC串行移出，在任一个BSCC边界扫描捕获单元完成移位操作后均进入旁路模式；根据移出的测试响应判断SOC上各芯片之间互连线是否存在故障；

在延迟测试模式时，功能时钟频率是非延迟测试模式时的测试时钟频率的10～20倍，输入边界扫描链向功能路径发送测试激励的过程为：

输入时钟首先为测试时钟，测试向量SI_LC按位依次移入输入边界扫描链；

完成移位后，Delay_enable信号由1变为0，输入时钟切换至功能时钟；同时，测试向量通过BSLC边界扫描发射单元PO端施加到功能路径上，作为其初始逻辑值；

在功能时钟第一个上升沿到来时，扫描链再进行一次移位，将这次移位造成的PO端的逻辑值转换作为测试激励发送到功能路径上；

在延迟测试模式时，输出边界扫描链的捕获和移出测试响应的过程为：

在功能时钟第二个上升沿到来时，BSCC边界扫描捕获单元从PI端捕获来自功能路径的测试响应；

然后进入移位阶段，测试响应SO_CC按位依次串行移出输出边界扫描链，每个测试时钟周期内所述输入边界扫描链中只有一个BSCC边界扫描捕获单元发生状态改变，m个BSCC边界扫描捕获单元从第1个至第m个依次将测试响应SO_CC串行移出，在任一个BSCC边界扫描捕获单元完成移位操作后均进入旁路模式。