[发明专利]一种检测电芯表面缺陷的方法及装置

说明书

本发明提供一种检测电芯表面缺陷的方法，包括：第二步骤(S2)，利用红外光对电芯进行照射；第三步骤(S3)，采集经过红外光照射的电芯的图像，以得到红外照射图像；以及第四步骤(S4)，根据所述红外照射图像来确定所述电芯的表面缺陷。另一种检测电芯表面缺陷的方法，在第二步骤(S2)之前，还包括第一步骤(S1)：对所述电芯进行吹风除尘。本发明提出一种新的光学方式进行电芯缺陷检测中的除尘，同时可以加上吹风除尘，避免了电芯表面缺陷检测时由于电芯表面柔软采用接触式除尘方式会引入新的电芯表面的缺陷，同时通过红外光照射的方法也能过滤掉极大比例的灰尘。

技术领域

本发明总体涉及缺陷检测领域，更具体地，涉及一种电芯表面缺陷检测的技术。

背景技术

现代工业生产中，许多的自动化外观缺陷检测需要在一些特殊的工位对产品表面进行灰尘清洁后才能进行外观缺陷检测，特别是所需检测的缺陷容易受到灰尘和类似灰尘的一些无关检测内容的干扰，使得光学自动检测设备的过检问题难以控制，导致检测误判。所以在进行缺陷检测之前，通常会先对待检测物体进行除尘操作，以免物体表面附着的灰尘或灰尘类似物干扰物体表面的缺陷检测。常用的除尘操作是使用接触式的方式对检测对象进行除尘，例如使用喷水清洗，但是有些产品由于自身原因，不能使用接触式方式除尘。比如电芯表面的缺陷检测，因为电芯包装较软，使用接触式清洁时受外力易产生新的缺陷，导致电芯的损伤，故电芯外观的检测是不便使用接触的方式进行灰尘清洁后再进行外观缺陷检测的。

发明内容

针对以上问题，本发明的目的在于克服现有技术中无法排出电芯表面的灰尘的干扰准确检测出电芯表面的缺陷的困难，提供一种检测电芯表面缺陷的方法及装置。

根据本发明的第一技术方案，提供一种检测电芯表面缺陷的方法，包括：第二步骤(S2)，利用红外光对电芯进行照射；第三步骤(S3)，采集经过红外光照射的电芯的图像，以得到红外照射图像；以及第四步骤(S4)，根据所述红外照射图像来确定所述电芯的表面缺陷。

第二技术方案基于第一技术方案，其中，所述电芯的颜色为深色。

第三技术方案基于第一技术方案，其中，所述电芯的颜色为黑色。

第四技术方案基于第一技术方案，其中，所述电芯为表面柔软的电芯。

第五技术方案基于第一技术方案，其中，所述缺陷为漏金属缺陷。

第六技术方案基于第一技术方案，其中，进一步包括：第一步骤(S1)，在所述第二步骤(S2)之前，对所述电芯进行吹风除尘。

第七技术方案基于第六技术方案，其中，所述进行吹风除尘时电芯完成吹风除尘后电芯移动走或者电芯完成吹风除尘后吹风机移动走。

第八技术方案基于第七技术方案，其中，对所述电芯进行吹风除尘包括：吹风的方向与所述电芯表面的第一夹角小于90度。

第九技术方案基于第八技术方案，其中，所述第一夹角为10-60度。

第十技术方案基于第一技术方案至第九技术方案中的任意一个，其中，利用红外光对经过吹风除尘的电芯进行照射包括：

红外光照射的方向与所述电芯表面的第二夹角小于90度。

第十一技术方案基于第十技术方案，其中，所述第二夹角为10-60度。

第十二技术方案基于第十技术方案，其中，所述红外光的光源为面光源。

第十三技术方案基于第十二技术方案，其中，所述红外光的光源为多个。

第十四技术方案基于第十三技术方案，其中，红外光的光源为2个，红色面光的光源为2个，2个红外光的光源相对，两个红色光的光源相对，分别设置在所述电芯的四个方向上。