[发明专利]一种碳化硅陶瓷的放电等离子扩散连接方法在审

专利信息
申请号: 201910432342.3 申请日: 2019-05-23
公开(公告)号: CN110041090A 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 钟志宏;孙博文;李振;林瑜;宋奎晶 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: C04B37/00 分类号: C04B37/00
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 乔恒婷
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 扩散连接 连接层 放电等离子 碳化硅陶瓷 复相陶瓷 连接层材料 热物理性能 质量百分比 接头裂纹 界面结合 力学性能 陶瓷接头 原料配比 原位反应 两相 制备 陶瓷
【权利要求书】:

1.一种碳化硅陶瓷的放电等离子扩散连接方法,其特征在于包括如下步骤:

步骤1:连接层粉末的制备

按配比量称取ZrH2粉、Si以及B4C,倒入玛瑙研磨钵中,以无水酒精为研磨介质,手工研磨3h至完全混合均匀,随后置于真空干燥箱中干燥6h,即得连接层粉末;

步骤2:陶瓷块体预处理

采用金刚石研磨抛光悬浮液对SiC陶瓷块体的连接面进行抛光,将抛光后的SiC陶瓷块体放入酒精溶液中超声清洗,室温下风干,得到待连接SiC陶瓷块体;

步骤3:放电等离子扩散连接

按SiC陶瓷/连接层粉末/SiC陶瓷的顺序装配至石墨模具中,再将装配完成的石墨模具放入放电等离子烧结炉中,施加一定的压力,室温下对烧结炉抽真空至20Pa以下,然后升温至放电等离子扩散连接温度,保温一段时间后降温至室温,即可得SiC/复相陶瓷层/SiC扩散焊接头。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤1中,制备连接层粉末的原料按质量百分比构成如下:

B4C20-25%,Si10-15%,余量为ZrH2

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:

所述ZrH2粉的纯度>99%,颗粒尺寸为10-25μm;所述B4C粉的纯度>99%,颗粒尺寸为1-5μm;所述Si粉的纯度>98%,颗粒尺寸为10-40μm。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤2中,所述金刚石研磨抛光悬浮液为1-3.5μm的金刚石研磨抛光悬浮液。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤3中,扩散连接过程中,升温速率为50-100℃/min,烧结温度为1400-1700℃,保温时间为5-15min。

6.根据权利要求1或5所述的方法,其特征在于:

步骤3中,开始升温时,对样品施加30-60MPa的压力,保持压力至扩散连接保温时间结束。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤3中,扩散连接保温时间完成后,降温速率为10-20℃/min,降温至600℃时炉冷至室温。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

步骤3中,复相陶瓷层的厚度为60-80μm。

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