[发明专利]太赫兹检测系统及其检测方法

说明书

本发明提供一种太赫兹检测系统及其检测方法，该检测系统包括太赫兹成像装置与太赫兹检测装置，太赫兹成像装置用于对传送带上的待测物体进行太赫兹检测以获取待测物体的太赫兹图像；太赫兹检测装置用于对太赫兹图像进行处理，以识别太赫兹图像的可疑物品，若太赫兹图像上存在可疑物品，在太赫兹图像上对可疑物品进行位置标注，并根据可疑物品的危险度对待测物体进行安全分类。通过上述方式，本申请提供的太赫兹检测系统及其检测方法能够快速的对物体进行智能识别检测。

技术领域

本发明涉及安检领域，特别涉及到一种太赫兹检测系统及其检测方法。

背景技术

在现有技术中，在物体安检中一般采用X光对待测物体进行检测后通过人工进行识别，以确定待测物体是否安全，但是X光具有较大的辐射。且人工检测的效率较慢，无法适应于如快递行业的安检。

发明内容

本发明提供一种太赫兹检测系统及其检测方法。以满足现有技术中无法快速对待测物体进行安检的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种太赫兹检测系统，所述检测系统包括：太赫兹成像装置，用于对传送带上的待测物体进行太赫兹检测以获取所述待测物体的太赫兹图像；太赫兹检测装置，用于对所述太赫兹图像进行处理，以识别所述太赫兹图像的可疑物品，若所述太赫兹图像上存在所述可疑物品，在所述太赫兹图像上对所述可疑物品进行位置标注，并根据所述可疑物品的危险度对所述待测物体进行安全分类。

根据本发明提供的一实施方式，所述太赫兹检测系统还包括分拣装置，所述分拣装置根据所述安全分类对所述待测物体进行分拣，以使得所述待测物体进入与所述安全分类对应的通道。

根据本发明提供的一实施方式，所述太赫兹成像装置包括：第一发射组件，用于发射第一太赫兹光束；曲面反射镜，用于对所述第一太赫兹光束进行反射，以使得被反射后的第一太赫兹光束入射到待测物体上；第一探测器，设置于被反射后的所述第一太赫兹光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第一太赫兹光束；第一成像组件，所述第一成像组件与所述第一发射组件及第一探测器连接，以用于对所述待测物体成像；或所述太赫兹成像装置包括：第二发射组件，用于发射第二太赫兹光束；分光镜，用于将所述第二太赫兹光束分为第一太赫兹子光束与第二太赫兹子光束；第一反射镜，设置于所述第一太赫兹子光束的光路上，用于将所述第一太赫兹子光束进行反射以使得被反射的所述第一太赫兹子光束入射到待测物体上；第二反射镜，设置于所述第二太赫兹子光束的光路上，用于将所述第二太赫兹子光束进行反射以使得被反射的所述第二太赫兹子光束也入射到所述待测物体上；第二探测器，设置于被反射后的所述第一太赫兹子光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第一太赫兹子光束；第三探测器，设置于被反射后的所述第二太赫兹子光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第二太赫兹子光束；第二成像组件，所述第二成像组件与所述第二发射组件、第二探测器以及第三探测器连接，以用于对所述待测物体成像；其中，所述被反射后的第一太赫兹子光束的光路与被所述反射后的第二太赫兹子光束的光路不平行；或所述太赫兹成像装置包括：第三发射组件，用于发射第三太赫兹光束；第四发射组件，用于发射第四太赫兹光束；第三反射镜，设置于所述第三太赫兹光束的光路上，用于将所述第三太赫兹光束进行反射以使得被反射的所述第三太赫兹光束入射到待测物体上；第四反射镜，设置于所述第四太赫兹光束的光路上，用于将所述第四太赫兹光束进行反射以使得被反射的所述第四太赫兹光束也入射到所述待测物体上；第四探测器，设置于被反射后的所述第三太赫兹光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第三太赫兹光束；第五探测器，设置于被反射后的所述第四太赫兹光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第四太赫兹光束；第三成像组件，所述第三成像组件与所述第三发射组件、第四发射组件、第四探测器以及第五探测器连接，以用于对所述待测物体成像；其中，所述被反射后的第三太赫兹光束的光路与所述被发射后的第四太赫兹光束的光路不平行。

根据本发明提供的一实施方式，所述被反射后的第一太赫兹子光束的光路与被所述反射后的第二太赫兹子光束的光路垂直。