[发明专利]存储器的内建自测试系统

权利要求书

1.一种存储器的内建自测试系统，其特征在于，包括：N个存储器接口模块及一一对应耦接的N个存储器，且N个存储器接口模块相同，其中：第i个存储器接口模块包括：自测试控制器、第一选择器、第二选择器、第三选择器、第四选择器、第五选择器及自测试结果寄存器，1≤i≤N；

所述自测试控制器分别与所述第一选择器的第二输入端、所述第二选择器的第二输入端、所述第三选择器的第二输入端、所述自测试结果寄存器的输出端耦接；

所述第一选择器的输出端与第i个存储器的地址输入端耦接；

所述第二选择器的输出端分别与所述第i个存储器的数据输入端以及所述第四选择器的第二输入端耦接；

所述第三选择器的第一输入端与所述第五选择器的输出端耦接，所述第三选择器的输出端与所述第四选择器的第一输入端耦接；

所述第四选择器的输出端与所述自测试结果寄存器的输入端耦接；所述第四选择器用于接收外部控制信号，并根据所述外部控制信号选择输出所述第四选择器的第一输入端的数据或者所述第四选择器的第二输入端的数据；

所述第五选择器的第一输入端与所述第i个存储器的输出端耦接；所述第五选择器的第二输入端与所述自测试结果寄存器输出端耦接；所述第五选择器用于接收外部控制信号，并根据所述外部控制信号输出所述第五选择器的第一输入端的数据或者所述第五选择器的第二输入端的数据。

2.根据权利要求1所述的存储器的内建自测试系统，其特征在于，所述自测试控制器用于向所述第三选择器的第二输入端输入移进信号，以将外部数据移进自测试逻辑以及接收所述自测试结果寄存器输出第i个存储器的自测试结果，并将所述第i个存储器的自测试结果扫描至芯片外。

3.根据权利要求1所述的存储器的内建自测试系统，其特征在于，所述第一选择器的第一输入端用于接收功能地址。

4.根据权利要求1所述的存储器的内建自测试系统，其特征在于，所述第二选择器的第一输入端用于接收功能数据。

5.根据权利要求1～4任一项所述的存储器的内建自测试系统，其特征在于，在芯片测试阶段，所述外部控制信号为低电平信号，所述第四选择器输出所述第二选择器输出的数据，所述第五选择器输出所述第i个存储器输出的数据；所述自测试结果寄存器用于存储所述第i个存储器的测试结果，并在测试结束时，将所述第i个存储器的测试结果扫描至所述芯片外。

6.根据权利要求1～4任一项所述的存储器的内建自测试系统，其特征在于，在芯片扫描测试时，所述外部控制信号为低电平信号，所述第四选择器输出所述第二选择器输出的数据，所述第五选择器输出所述第i个存储器输出的数据；所述自测试结果寄存器用于观测所述自测试结果寄存器输入端的组合逻辑，以及所述自测试结果寄存器的输出端的组合逻辑；当所述外部控制信号为高电平信号时，所述自测试结果寄存器用于观测所述第i个存储器的数据输入端的组合逻辑以及控制所述第i个存储器的输出逻辑。