[发明专利]采样方法、装置以及计算机存储介质和图像传感器

权利要求书

1.一种采样方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待处理信号；

根据所述待处理信号的预设采样次数，确定第一斜坡电压信号对应的第一参数；其中，所述第一斜坡电压信号是根据所述第一参数由第一斜坡发生器得到的，所述第一斜坡电压信号包括至少一个上升斜坡和/或至少一个下降斜坡；

基于所述第一斜坡电压信号对所述待处理信号进行预设采样次数的采样处理，输出数字信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待处理信号的预设采样次数，确定第一斜坡电压信号对应的第一参数，包括：

根据预设采样次数，确定第一斜坡电压信号对应的斜率；

将确定的斜率作为所述第一参数；其中，所述斜率包含上升斜率和/或下降斜率。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述将确定的斜率作为所述第一参数之后，所述方法还包括：

基于所述上升斜率和/或所述下降斜率，通过第一斜坡发生器得到所述第一斜坡电压信号；其中，在所述第一斜坡电压信号中，所述至少一个上升斜坡是按照所述上升斜率得到的，所述至少一个下降斜坡是按照所述下降斜率得到的。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一斜坡电压信号对所述待处理信号进行预设采样次数的采样处理，输出数字信号，包括：

基于所述第一斜坡电压信号，通过第一比较器对所述待处理信号进行预设采样次数的采样处理，得到预设采样次数的输出数据；

对所述预设采样次数的输出数据进行平均值计算，将得到的平均数据作为所述数字信号；

输出所述数字信号。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一斜坡电压信号，通过第一比较器对所述待处理信号进行预设采样次数的采样处理，得到预设采样次数的输出数据，包括：

针对所述第一斜坡电压信号所包括的预设采样次数个斜坡，通过第一比较器对每一个斜坡和所述待处理信号进行比较处理；

根据比较的结果，通过计数器得到每一个斜坡对应的输出数据；

基于预设采样次数个斜坡，获得所述预设采样次数的输出数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据比较的结果，通过计数器得到每一个斜坡对应的输出数据，包括：

针对每一个斜坡，当所述斜坡对应的信号值小于所述待处理信号对应的信号值时，控制计数器进行计数处理；

当所述斜坡对应的信号值不小于所述待处理信号对应的信号值时，控制计数器停止计数处理；

根据计数的结果，得到每一个斜坡对应的输出数据。

7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述获取待处理信号，包括：

接收入射光信号；

对所述入射光信号进行光电转换，得到电信号，将所述电信号作为所述待处理信号。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述得到电信号之后，所述方法还包括：

通过第二比较器和第二斜坡电压信号对所述电信号进行相关双采样处理，得到预处理信号，将所述预处理信号作为所述待处理信号；其中，所述第二斜坡电压信号是由第二斜坡发生器得到的，所述第二斜坡电压信号与所述第一斜坡电压信号不同。

9.一种采样装置，其特征在于，所述采样装置包括获取单元、确定单元和第一采样单元，其中，

所述获取单元，配置为获取待处理信号；

所述确定单元，配置为根据所述待处理信号的预设采样次数，确定第一斜坡电压信号对应的第一参数；其中，所述第一斜坡电压信号是根据所述第一参数由第一斜坡发生器得到的，所述第一斜坡电压信号包括至少一个上升斜坡和/或至少一个下降斜坡；

所述第一采样单元，配置为基于所述第一斜坡电压信号对所述待处理信号进行预设采样次数的采样处理，输出数字信号。