[发明专利]设备发热缺陷预测方法、装置及终端设备

说明书

本发明适用于电气试验技术领域，提供了一种设备发热缺陷预测方法、装置及终端设备，所述方法包括：获取待检测设备的设备信息，根据设备信息，确定待检测设备的设备风险等级；若待检测设备的设备风险等级大于预设等级，则对待检测设备进行重点发热缺陷检测，获取待检测设备的当前发热缺陷数据；将待检测设备的当前发热缺陷数据输入缺陷预测模型，得到待检测设备的预测发热缺陷数据。本发明能够根据待检测设备的设备信息确定设备的风险等级并对设备的发热缺陷进行预测，能够及时的对存在发热缺陷风险的设备安排消缺工作，从而保证设备和电网的安全正常运行，延长设备的使用寿命。

技术领域

本发明属于电气试验技术领域，尤其涉及一种设备发热缺陷预测方法、装置及终端设备。

背景技术

电气试验专业开展带电测试工作以来，随着设备运行时间的不断增长，设备发热缺陷正在逐年递增，并且给电网稳定带来了严峻的考验，尤其是在大负荷情况下设备发热缺陷更是频繁发生，而且很多发热缺陷都发生在重要变电站中的重要设备上。

目前对发热缺陷的检测通常采用红外缺陷检测，检测的缺陷中一般发热缺陷占据很大一部分，一旦一般发热缺陷发展成为严重发热缺陷或者危急发热缺陷时，想要立即进行设备停处理不太现实，无法及时的实施消缺工作，这使检修工作十分被动，难以保证电网的安全运行。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种设备发热缺陷预测方法、装置及终端设备，以解决现有技术中因无法对设备发热缺陷及时处理而存在的设备及电网安全隐患的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种设备发热缺陷预测方法，包括：

获取待检测设备的设备信息，并根据所述待检测设备的设备信息确定所述待检测设备的设备风险等级；

若所述待检测设备的设备风险等级大于预设等级，则对所述待检测设备进行重点发热缺陷检测，获取所述待检测设备的当前发热缺陷数据；

将所述待检测设备的当前发热缺陷数据输入缺陷预测模型，得到所述待检测设备的预测发热缺陷数据。

本发明实施例的第二方面提供了一种设备发热缺陷预测装置，包括：

设备风险等级获取模块，用于获取待检测设备的设备信息，并根据所述待检测设备的设备信息确定所述待检测设备的设备风险等级；

当前发热缺陷数据检测模块，用于若所述待检测设备的设备风险等级大于预设等级，则对所述待检测设备进行重点发热缺陷检测，获取所述待检测设备的当前发热缺陷数据；

发热缺陷数据预测模块，用于将所述待检测设备的当前发热缺陷数据输入缺陷预测模型，得到所述待检测设备的预测发热缺陷数据。

本发明实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述设备发热缺陷预测方法的步骤。

本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述设备发热缺陷预测方法的步骤。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本发明实施例首先获取待检测设备的设备信息，根据设备信息，确定待检测设备的设备风险等级；若所述待检测设备的设备风险等级大于预设等级，则对所述待检测设备进行重点发热缺陷检测，获取所述待检测设备的当前发热缺陷数据；最后将所述待检测设备的当前发热缺陷数据输入缺陷预测模型，得到所述待检测设备的预测发热缺陷数据。本发明实施例能够根据设备信息确定设备的风险等级并对风险等级较高的设备进行发热缺陷预测，能够及时的对存在发热缺陷风险的设备安排消缺工作，从而保证设备和电网的安全正常运行，延长设备的使用寿命。

附图说明