[发明专利]电路装置、电光装置、电子设备和移动体有效
申请号: | 201910445366.2 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN110543378B | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 石川淳 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G06F11/30 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李庆泽;邓毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 装置 电光 电子设备 移动 | ||
电路装置、电光装置、电子设备和移动体。能够在电路装置内生成用于检测非易失性存储器所存储的数据的错误的错误检测用数据。电路装置(100)包含:接口电路(120),其接收设定数据;以及控制电路(110),其根据设定数据控制电路装置(100)的动作,并且控制对非易失性存储器(10)的访问。控制电路(110)根据接口电路(120)接收到的设定数据生成错误检测用数据,将设定数据与错误检测用数据写入非易失性存储器(10)。
技术领域
本发明涉及电路装置、电光装置、电子设备和移动体等。
背景技术
作为检查数据的错误的方法,例如,已知有CRC(Cyclic Redundancy Check)或校验和等方法。在这些方法中,通过对根据原始数据而运算出的检查码的期望值与根据错误检测对象的数据而运算出的检查码进行比较,判定二者是否一致。
专利文献1公开了将这样的错误检测方法应用于非易失性存储器的现有技术。在专利文献1中,在液晶显示装置的外部设置有ROM,该ROM中存储有控制数据和检查码的期望值。液晶显示装置具有控制装置,该控制装置将设定数据从ROM加载到设定寄存器中。控制装置根据设定寄存器所存储的设定数据运算检查码。然后,在设定寄存器的电源用电压进行了脱离规定的允许条件的变动的情况下,控制装置对通过运算而求出的检查码与从ROM读出的检查码的期望值进行比较,由此,进行错误检测。
专利文献1:日本特开2011-164708号公报
在检测非易失性存储器所存储的数据的错误时,如上所述,预先使非易失性存储器存储检查码。但是,在专利文献1中,没有公开如何准备了要存储到非易失性存储器中的检查码。在专利文献1中,未采用控制装置将数据写入非易失性存储器的结构,因此,可认为在控制装置的外部运算检查码,将该检查码与设定数据一起写入非易失性存储器。这样,在专利文献1中,在将设定数据写入非易失性存储器时,需要在控制装置的外部运算检查码,过程变得复杂。
发明内容
本发明的一个方式涉及电路装置,其包含;接口电路,其接收设定数据;以及控制电路,其根据所述设定数据控制所述电路装置的动作,并且控制对非易失性存储器的访问,所述控制电路根据所述接口电路接收到的所述设定数据生成错误检测用数据,将所述设定数据和所述错误检测用数据写入所述非易失性存储器。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述控制电路包含运算部,所述运算部根据所述接口电路接收到的所述设定数据生成所述错误检测用数据。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述电路装置包含寄存器,所述接口电路将接收到的所述设定数据写入所述寄存器,所述控制电路根据写入所述寄存器的所述设定数据,生成所述错误检测用数据。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述控制电路从所述非易失性存储器读出所述设定数据和所述错误检测用数据,根据从所述非易失性存储器读出的所述设定数据,生成用于与所述错误检测用数据进行比较的比较用数据。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述控制电路进行所述错误检测用数据与所述比较用数据的比较。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述控制电路包含比较部,所述比较部进行所述错误检测用数据与所述比较用数据的比较。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述控制电路根据所述比较的结果输出错误检测信号。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,所述控制电路对所述比较的结果不一致的次数进行计数,在计数值为n时,输出错误检测信号,其中,n为1以上的整数。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,电路装置包含所述非易失性存储器。
此外,在本发明的一个方式中,也可以是,电路装置包含驱动电路,该驱动电路对电光面板进行驱动,所述设定数据是设定驱动电路使用的电压的数据。
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