[发明专利]电路装置、电子设备和移动体有效
申请号: | 201910446058.1 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN110543379B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 三浦昌彦;日和佐悠一;小林弘典 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李庆泽;邓毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 装置 电子设备 移动 | ||
1.一种电路装置,其特征在于,其包含:
寄存器;
访问控制电路,其进行针对非易失性存储器的访问控制,将所述非易失性存储器所存储的电路装置的设定数据加载到所述寄存器中;以及
错误检测电路,
所述访问控制电路进行将所述非易失性存储器所存储的所述设定数据重新加载到所述寄存器中的刷新动作,
所述错误检测电路从所述寄存器读出重新加载到所述寄存器的比较用数据,对所读出的所述比较用数据与所述比较用数据的期望值进行比较,根据比较结果进行所述访问控制的错误检测,
所述比较用数据是与对所述非易失性存储器写入所述设定数据的写入次数对应地设定为不同的值的数据。
2.一种电路装置,其特征在于,其包含:
寄存器;
访问控制电路,其进行针对非易失性存储器的访问控制,将所述非易失性存储器所存储的电路装置的设定数据加载到所述寄存器中;以及
错误检测电路,
所述访问控制电路进行将所述非易失性存储器所存储的所述设定数据重新加载到所述寄存器中的刷新动作,
所述错误检测电路从所述寄存器读出重新加载到所述寄存器的比较用数据,对所读出的所述比较用数据与所述比较用数据的期望值进行比较,根据比较结果进行所述访问控制的错误检测,
所述非易失性存储器存储第1比较用数据作为所述比较用数据,存储第1设定数据~第k设定数据作为所述设定数据,k为2以上的整数,
所述访问控制电路在所述刷新动作中,将所述第1比较用数据从所述非易失性存储器重新加载到所述寄存器中,在重新加载所述第1比较用数据之后,将所述第1设定数据~所述第k设定数据从所述非易失性存储器重新加载到所述寄存器中,
所述错误检测电路对重新加载到所述寄存器中的所述第1比较用数据与所述第1比较用数据的期望值进行比较。
3.根据权利要求2所述的电路装置,其特征在于,
所述非易失性存储器存储第2比较用数据,
所述访问控制电路在所述刷新动作中,在重新加载所述第1设定数据~所述第k设定数据之后,将所述第2比较用数据从所述非易失性存储器重新加载到所述寄存器中,
所述错误检测电路对重新加载到所述寄存器中的所述第2比较用数据与所述第2比较用数据的期望值进行比较。
4.一种电路装置,其特征在于,其包含:
寄存器;
访问控制电路,其进行针对非易失性存储器的访问控制,将所述非易失性存储器所存储的电路装置的设定数据加载到所述寄存器中;以及
错误检测电路,
所述访问控制电路进行将所述非易失性存储器所存储的所述设定数据重新加载到所述寄存器中的刷新动作,
所述错误检测电路从所述寄存器读出重新加载到所述寄存器的比较用数据,对所读出的所述比较用数据与所述比较用数据的期望值进行比较,根据比较结果进行所述访问控制的错误检测,
所述非易失性存储器存储第1数据以及值与所述第1数据不同的第2数据作为所述比较用数据,
所述访问控制电路在作为所述刷新动作的第1刷新动作中,将所述第1数据从所述非易失性存储器重新加载到所述寄存器中,在所述第1刷新动作之后的第2刷新动作中,将所述第2数据从所述非易失性存储器重新加载到所述寄存器中,
在将所述第1数据重新加载到所述寄存器中时,所述错误检测电路对所述第1数据与所述第1数据的期望值进行比较,
在将所述第2数据重新加载到所述寄存器中时,所述错误检测电路对所述第2数据与所述第2数据的期望值进行比较。
5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的电路装置,其特征在于,
在检测出所述访问控制的错误时,所述访问控制电路停止所述刷新动作。
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