[发明专利]基于极化毫米波辐射的目标表面法向量获取方法及系统有效
申请号: | 201910447070.4 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN110161496B | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 胡飞;胡演 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01S13/89 | 分类号: | G01S13/89;G01S7/41 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 极化 毫米波 辐射 目标 表面 向量 获取 方法 系统 | ||
1.一种基于极化毫米波辐射的目标表面法向量获取方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在观测角度为第一观测方位角和第一观测天顶角θ1的第一观测点以三种不同的天线极化旋转角度分别对置于无极化辐射环境中的待测目标进行成像,获得目标表面S的第一亮温图像F1、第二亮温图像F2和第三亮温图像F3;
S2:根据所述三种不同的天线极化旋转角度以及对应的亮温图像中目标表面S上所有点的第一亮温平均值TB1、第二亮温平均值TB2和第三亮温平均值TB3获得目标表面S的第一表面相位角α1;
S3:在观测角度为第二观测方位角和第二观测天顶角θ2的第二观测点以三种不同的天线极化旋转角度分别对置于无极化辐射环境中的待测目标进行成像,获得目标表面的第四亮温图像F4、第五亮温图像F5和第六亮温图像F6;
S4:根据所述三种不同的天线极化旋转角度以及对应的亮温图像中目标表面S上所有点的第四亮温平均值TB4、第五亮温平均值TB5和第六亮温平均值TB6获得目标表面S的第二表面相位角α2;
S5:根据所述第一表面相位角α1和第二表面相位角α2以及两个观测点的第一观测方位角和第二观测方位角第一观测天顶角θ1和第二观测天顶角θ2获得目标表面S的法向量,目标表面S的法向量n由以下公式计算得到:
其中,j=1,2分别代表第一观测点和第二观测点。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述第一亮温平均值TB1、所述第二亮温平均值TB2和所述第三亮温平均值TB3均相等,则目标表面S的法向量为
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤S2中,根据余弦曲线方程TBm=Qcos[2(βm-α1)]+I获得目标表面S的第一表面相位角α1,0°α1≤180°;其中,TBm为第m亮温平均值,m=1,2,3;Q为毫米波辐射余弦曲线的振幅,Q≤0;βm为所述三种不同的天线极化旋转角度;I为不随极化旋转角度变化的亮温直流分量。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述第四亮温平均值TB4、所述第五亮温平均值TB5和所述第六亮温平均值TB6均相等,则目标表面S的法向量为
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤S4中,根据余弦曲线方程TBn=Qcos[2(βn-α2)]+I获得目标表面S的第二表面相位角α2,0°α2≤180°;其中,TBn为第n亮温平均值,n=4,5,6;Q为毫米波辐射余弦曲线的振幅,Q≤0;βn为所述三种不同的天线极化旋转角度;I为不随极化旋转角度变化的亮温直流分量。
6.一种基于权利要求1至5所述的方法的目标表面法向量获取系统,包括:
亮温成像模块,用于在不同观测点处以不同天线极化旋转角度获取待测目标的亮温图像;
表面相位角获取模块,用于利用所述亮温成像模块的亮温平均值获取目标表面的相位角;
法向量获取模块,用于利用所述表面相位角获取模块的相位角获得目标表面的法向量。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,若处于同一观测点的所述亮温成像模块的亮温平均值相等,则直接通过所述表面相位角获取模块获得的相位角得到目标表面的法向量。
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