[发明专利]薄膜晶体管基板及其制作方法在审
申请号: | 201910449049.8 | 申请日: | 2019-05-28 |
公开(公告)号: | CN110223989A | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 章仟益 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77;H01L29/40;H01L29/417;H01L29/43;G02F1/13;G02F1/1362 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 源漏极 薄膜晶体管基板 金属氧化物层 第二金属层 第一金属层 金属氧化物 栅极绝缘层 阻挡层材料 层叠结构 栅极层 沟道 基板 半导体缺陷 向下扩散 短路 酸腐蚀 刻蚀 制作 生产成本 残留 | ||
本发明提供一种薄膜晶体管基板及其制作方法,包括:基板;栅极层,形成于所述基板上;栅极绝缘层,形成于所述栅极层上;金属氧化物层,形成于所述栅极绝缘层上;以及源漏极,分别形成于所述金属氧化物层两端,所述源漏极分別具有层叠结构,所述层叠结构包括第一金属层及第二金属层,所述第一金属层形成于所述第二金属层上。避免源漏极刻蚀时金属氧化物沟道受到酸腐蚀增加半导体缺陷,有效防止铜在高温等条件向下扩散至金属氧化物沟道内。无需额外添加阻挡层材料,降低了生产成本的同时,减少阻挡层材料残留导致短路等风险。
技术领域
本发明涉及显示面板领域,特别涉及一种薄膜晶体管基板及其制作方法。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)是目前市场上应用最为广泛的显示产品,其本身具有高亮度、长寿命、广视角、大尺寸显示等优点,并且液晶显示器相关的生产工艺技术十分成熟,产品良率高,生产成本相对较低,市场接受度高。
薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)基板是液晶显示器能够实现显示效果的重要一环。在形成薄膜晶体管基板中的金属氧化物时,氧化铟镓锌(Indium GalliumZinc Oxide,IGZO)由于其载流子迁移率是非晶硅的20~30倍,可以大大提高薄膜晶体管对像素电极的充放电速率,实现更快的刷新率,大大提高像素的行扫描速率。但目前底栅型氧化铟镓锌在制作过程因选择比等问题,导致刻蚀工艺会对氧化铟镓锌有损伤,造成氧化铟镓锌表面缺陷,影响器件漏电流及阈值电压和稳定性。
另外,在形成薄膜晶体管基板中的源漏极时,当源漏极采用铜(Cu)结构,因其与基板或者氧化硅及氮化硅附着力差,铜扩散至沟道等问题,需要额外添加进行阻挡层材料。一方面增加了刻蚀成本,另一方面会有钼(Mo)等阻挡层残留,造成短路等风险。
因此,有必要提供一种新的薄膜晶体管基板及其制作方法,以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于发明一种薄膜晶体管基板及其制作方法,通过剥离工艺形成源漏极,避免刻蚀工艺对金属氧化物沟道造成损伤;源漏极使用铜和铟锡氧化物的层叠结构,防止铜扩散至金属氧化物沟道内,进而引起风险。
为实现上述目的,本发明提供一种薄膜晶体管基板,包括:基板;栅极层,形成于所述基板上;栅极绝缘层,形成于所述栅极层上;金属氧化物层,形成于所述栅极绝缘层上;以及源漏极,分别形成于所述金属氧化物层两端,所述源漏极分別具有层叠结构,所述层叠结构包括第一金属层及第二金属层,所述第一金属层形成于所述第二金属层上。
进一步地,所述栅极层为层叠结构,其材质为铜和钼。
进一步地,所述栅极绝缘层覆盖所述栅极层和所述基板的表面;以及所述金属氧化物层的材质为氧化铟镓锌。
进一步地,所述第一金属层的材质为铜;以及所述第二金属层的材质为铟锡氧化物。
进一步地,还包括:钝化层,沉积于所述源漏极上,所述钝化层覆盖所述栅极绝缘层、所述源漏极和所述金属氧化物层的表面。
本发明还提供一种薄膜晶体管基板的制作方法,包括如下步骤:
S1、提供一基板;
S2、形成栅极层于所述基板上;
S3、形成栅极绝缘层于所述栅极层上;
S4、形成金属氧化物层于所述栅极绝缘层上;
S5、形成光阻层于所述金属氧化物层上;
S6、对所述光阻层进行修饰灰化,以使所述金属氧化物层上预计形成源漏极的区域形成缺口;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的