[发明专利]一种电子元件检测装置

权利要求书

1.一种电子元件检测装置，其特征在于，包括：机架(50)；上料装置(10)，所述上料装置(10)位于机架(50)的一侧；检测机构(20)，所述检测机构(20)位于机架(50)上，所述检测机构(20)位于上料装置(10)后方，所述检测机构(20)上设置有一个承料台(201)，所述上料装置(10)用于将电子元件(60)按规定的顺序输送至承料台(201)上；检测轨道，所述检测轨道位于检测机构(20)上，所述承料台(201)可将电子元件(60)按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件(60)并驱动电子元件(60)在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件(60)不同的引脚组合抵接；分拣机构(30)，所述分拣机构(30)设置于检测机构(20)后方，所述分拣机构(30)上设置有分装箱(80)，所述分拣机构(30)上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件(60)在分拣机构(30)上移动至相应的分装箱(80)上，所述分装箱(80)用于分装存在不同问题的电子元件(60)。

2.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测探针底部设置有升降结构(71)，所述升降结构(71)用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件(60)的引脚。

3.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述上料装置(10)与检测轨道错位布置，所述承料台(201)设置于上料装置(10)与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台(201)靠近上料装置(10)的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件(60)，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件(60)的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置(10)或检测轨道中的一个相配合，所述承料台(201)的另一侧可封堵所述上料装置(10)的末端。

4.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述输送装置包括：第一夹具(202)，所述第一夹具(202)上设置有至少两组夹持槽(203)，所述夹持槽(203)朝向下方，所述第一夹具(202)可夹持电子元件(60)并限制电子元件(60)向上移动；驱动装置(204)，所述驱动装置(204)可驱动第一夹具(202)移动，所述驱动装置(204)包括：水平驱动器(304)，所述第一夹具(202)位于水平驱动器(304)上，所述水平驱动器(304)可带动第一夹具(202)沿检测轨道的长度方向上移动；垂直驱动器(304)，所述水平驱动器(304)设置于垂直驱动器(304)上，所述垂直驱动器(304)可带动水平驱动器(304)沿竖直方向运动。

5.如权利要求4所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测轨道包括：骑跨轨道(210)，骑跨轨道(210)两侧设置有依靠轨道(211)，依靠轨道(211)与骑跨轨道(210)之间设置有容置槽(212)，所述电子元件(60)骑跨于所述骑跨轨道(210)上，电子元件(60)的引脚位于所述容置槽(212)内。

6.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述分拣机构(30)包括一条分拣轨道(301)，所述分拣轨道(301)与检测轨道相接洽，所述分拣轨道(301)的一侧或两侧沿长度方向设置有若干活动板(302)，所述活动板(302)与分拣轨道(301)之间形成用于承接电子元件(60)的承接槽(303)，所述电子元件(60)的两侧可承接于承接槽(303)的两侧边，所述活动板(302)可相对分拣轨道(301)做前后运动从而扩大或缩小所述承接槽(303)的宽度，所述分装箱(80)位于所述承接槽(303)下方，所述分装箱(80)上设置有若干分装格，每个分装格与一块活动板(302)相配合。

7.如权利要求6所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述分装箱(80)位于机架(50)下方，所述机架(50)上设置有贯通上下的贯通槽，所述分拣轨道(301)位于机架(50)上方。