[发明专利]一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法与系统

权利要求书

1.一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，包括：

驱动探头在空间内移动至待测电子元器件的上方；

驱动所述探头以预设速度降至待测电子元器件表面与其接触，并在所述探头与待测电子元器件表面开始接触时实时检测其所受外力；

根据所述探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算所述探头的应变速度，并使所述探头保持所述应变速度以与待测电子元器件表面保持恒力接触预设时间至完成测试。

2.根据权利要求1所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，驱动所述探头在空间内移动至待测电子元器件的上方，包括：

通过三轴驱动机构的输出端带动所述探头在空间内运动至待测电子元器件的上方，并通过所述三轴驱动机构的输出端上设置的旋转轴调整所述探头的姿态。

3.根据权利要求2所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，在驱动所述探头下行时实时检测所述探头的高度位置，并以此调节所述探头的下行速度。

4.根据权利要求3所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，在驱动所述探头以预设速度降至待测电子元器件表面的过程中，使所述探头保持在速度范围0.1～0.5mm/s内。

5.根据权利要求4所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，通过设置在所述探头顶端的力传感器实时检测其所受外力，并以其检测值作为所述探头的外力。

6.根据权利要求5所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，计算出所述探头的应变速度后，使所述探头保持所述应变速度以与待测电子元器件表面保持10～15s。

7.根据权利要求1-6任一项所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法，其特征在于，根据所述探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算所述探头的应变速度，具体包括：

通过公式：

计算所述探头的应变速度；

其中，M为系统惯性参数，B为系统阻尼参数，x为所述探头的实际位置，f为所述探头的外力，为探头的应变速度，为f对t的一阶导数。

8.一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试系统，其特征在于，包括：

第一驱动模块，用于驱动探头在空间内移动至待测电子元器件的上方；

第二驱动模块，用于驱动所述探头以预设速度降至待测电子元器件表面与其接触；

外力检测模块，用于在所述探头与待测电子元器件表面开始接触时实时检测其所受外力；

恒力控制模块，用于根据所述探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算所述探头的应变速度，并使所述探头保持所述应变速度以与待测电子元器件表面保持恒力接触预设时间至完成测试。

9.根据权利要求8所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试系统，其特征在于，还包括：

高度检测模块，用于在所述探头开始下行时实时检测其高度位置，并以此调节所述探头的下行速度。

10.根据权利要求9所述的基于示波器探棒的PCB电子元器件测试系统，其特征在于，所述第一驱动模块包括用于驱动所述探头在空间内移动的三轴驱动机构和设置于所述三轴驱动机构的输出端上、用于调整所述探头姿态的旋转轴。