[发明专利]一种智能卡国密算法测试方法及装置

说明书

本申请公开了一种智能卡国密算法测试方法，包括：获取预置测试用例中包含的测试数据；所述预置测试用例对应的国密算法为待测智能卡中嵌入的国密算法；将获取到的所述测试数据发送给检验用智能卡与待测智能卡；所述检验用智能卡为嵌入的国密算法可信的智能卡；获取所述检验用智能卡返回的第一运算数据与所述待测智能卡返回的第二运算数据；比对所述第一运算数据与所述第二运算数据，以确定所述待测智能卡是否为算法可信的智能卡；解决了现有的测试方法，只适用于算法模块已经公开或者容易获得的国密算法的技术问题。本申请还公开了一种智能卡国密算法测试装置。

技术领域

本申请涉及智能卡技术领域，尤其涉及一种智能卡国密算法测试方法及装置。

背景技术

在开发支持国密算法的智能卡COS(片内操作系统)时，需要对嵌入国密算法后的智能卡进行算法测试，以检验智能卡内国密算法的运算结果是否正确。

现有的测试方法，通常是将测试主机的运算结果与待测智能卡的运算结果进行比对来判断待测智能卡的运算结果是否正确的。具体而言，可以在测试主机上运行预置的测试程序，测试程序执行，将测试用例提供的测试数据发送给待测智能卡，如此可以获取到待测智能卡的加/解密运算结果。而在测试主机端，可以通过调用预先装载在测试主机中、与该待测智能卡中嵌入的国密算法对应的算法模块，利用测试用例提供的测试数据进行加/解密运算，得到测试主机的加/解密运算结果。在得到两者的运算结果后，将两者的运算结果进行比对即可得到待测智能卡的算法测试结果。

然而，现有的测试方法，只适用于算法模块已经公开或者容易获得的国密算法。对于如SM1、SSF33等国密算法，若并不能获得其对应的算法模块，则无法在测试主机中进行调用，待测智能卡的加/解密运算结果就没有可比对的对象，相应的，也就无法对待测智能卡的算法进行检验了。

发明内容

本申请提供了一种智能卡国密算法测试方法及装置，解决了现有的测试方法，只适用于算法模块已经公开或者容易获得的国密算法的技术问题。

有鉴于此，本申请第一方面提供了一种智能卡国密算法测试方法，包括：

获取预置测试用例中包含的测试数据；所述预置测试用例对应的国密算法为待测智能卡中嵌入的国密算法；

将获取到的所述测试数据发送给检验用智能卡与待测智能卡；所述检验用智能卡为嵌入的国密算法可信的智能卡；

获取所述检验用智能卡返回的第一运算数据与所述待测智能卡返回的第二运算数据；

比对所述第一运算数据与所述第二运算数据，以确定所述待测智能卡是否为算法可信的智能卡。

优选地，所述将获取到的所述测试数据发送给检验用智能卡与待测智能卡具体包括：

将获取到的所述测试数据发送给第一读卡器，以使所述第一读卡器将所述测试数据发送给与所述第一读卡器连接的所述检验用智能卡；

将获取到的所述测试数据发送给第二读卡器，以使所述第二读卡器将所述测试数据发送给与所述第二读卡器连接的所述待测智能卡。

优选地，所述将获取到的所述测试数据发送给第一读卡器具体包括：

将获取到的所述测试数据的ADPU发送给第一读卡器；

所述将获取到的所述测试数据发送给第二读卡器具体包括：

将获取到的所述测试数据的ADPU发送给第二读卡器。

优选地，所述比对所述第一运算数据与所述第二运算数据，以确定所述待测智能卡是否为算法可信的智能卡具体包括：

比对所述第一运算数据与所述第二运算数据，若所述第一运算数据与所述第二运算数据相同，确定所述待测智能卡为算法可信的智能卡，否则，确定所述待测智能卡为算法不可信的智能卡。