[发明专利]一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置

权利要求书

1.一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，包括：高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，所述高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置包括密封容器、密封坩埚、加热装置、收集皿和管道调节装置；所述密封坩埚和加热装置设置在密封容器内，且加热装置设置在密封坩埚的周围，所述收集皿与密封坩埚的下部相连；

所述管道调节装置包括主管道、与主管道相连的第一支管道和第二支管道、设置在密封容器上的充气孔和排气孔；所述第一支管道与密闭容器相通，所述第二支管道与密封坩埚相通，所述主管道上安装有气体流量计，所述第二支管道上安装有压力，所述密封容器充满了惰性气体，所述收集皿装有有机冷却剂，所述收集皿的高度可调；

将喷雾液滴先固化再测量，包括如下步骤：

步骤一：在高压惰性气体挤压的条件下，加热至熔融状态的高熔点材料通过喷嘴发生喷雾和射流，落入装有有机冷却剂的收集皿中，喷雾和射流会冷却并凝固成颗粒和块状固体；

步骤二：将收集到的固体颗粒和块状固体分离，并分别称量出质量m₁和m₂，将其代入雾化率公式w＝m₁/(m₁+m₂)，即得到熔点材料雾化的雾化率w；

步骤三：将固体颗粒根据粒径大小分组并称量每组的质量，之后带入公式w_n＝m_n/m₁得到固体颗粒的粒径分布，其中n代表第n组，m_n代表第n组的颗粒质量，m₁代表收集到的颗粒质量；

步骤四：根据关系式得到喷雾液滴的粒径分组范围及每组的质量份额，即高熔点材料的雾化粒径分布；其中ρ₁为固体颗粒的密度，即高熔点材料常温下的密度；ρ₀为喷雾液滴的密度，即高熔点材料被加热到熔融状态时的密度，R₁为固体颗粒的粒径、R₀为喷雾液滴的粒径。

2.根据权利要求1所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述高熔点材料包括铁及其合金、铝及其合金、锂及其合金、钠及其合金、钾及其合金、金属氧化物或碳化物。

3.根据权利要求2所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述有机冷却剂为液体石蜡或煤油。

4.根据权利要求3所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述固体颗粒根据粒径大小分组采用筛分法为主，显微图像法为辅的方法：利用按照筛孔尺寸依次组合的试验筛，借助震动把固体颗粒筛分成不同的筛分粒级，称量每个筛上和底盘上的颗粒量，计算出每个筛分粒级的百分含量；对于无法用筛分法测量的极少量微小颗粒，采用显微图像法，将样品成像后经过图像分析进行测定。