[发明专利]一种探测器模块的对齐方法

权利要求书

1.一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：依次包括校准阶段、测量阶段和调整阶段，所述校准阶段包括以下步骤：

S1.根据限束器的开缝形状，采用理论方法模拟限束器和探测器模块之间的对齐距离，计算出探测器各排模块的信号分布；

S2.根据步骤S1的信号分布拟合出一个信号分布关系式：其中，I(z)为第Z排探测器模块收到的信号，C_n为多项式系数，N表示探测器模块总的排数；

S3.重复计算探测器模块与限束器之间的相对偏差，并以限束器和探测器模块之间的相对偏差为自变量，以步骤S2中信号分布的多项式系数作为因变量进行拟合，得到的拟合关系式为：其中，D_n为步骤S1中进行理论方法模拟时得到的系数，δ为探测器模块和限束器之间的相对偏差距离；

所述测量阶段包括以下步骤：

T1.采用机械对齐方式对齐限束器和X射线球管的焦点；

T2.进行曝光，采集探测器各排模块的信号分布，并对每个探测器单元的信号进行偏置校正和增益校正，将校正后的信号采用S2中的公式进行拟合，得到多项式系数C_n；

T3.通过步骤T2中得到的多项式系数C_n以及在步骤S3中得到的拟合关系式即可得到限束器和探测器模块之间的相对偏差δ；

所述调整阶段包括以下步骤：包括调节工装，将调节工装安装至探测器支架上，通过步骤T3中的相对偏差δ即可计算出相邻探测器模块之间的偏差值，该偏差值即为调节工装对探测器模块进行调整的调整量；根据调整量，对探测器模块间的相对位置进行调整。

2.如权利要求1所述的一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：所述步骤S1中的理论模拟方法为：采用计算机模拟，以高斯函数模拟X射线焦点的光强分布，并在焦点范围内获取多个采样点；探测器的每个像素划分为多个子像素，子像素与采样点一一对应，将每个采样点与每个子像素连接形成一条光线；计算每个探测器单元内所有子像素收到的信号之和即可得到探测器各排模块的信号分布。

3.如权利要求2所述的一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：所述计算每个探测器单元内所有子像素收到的信号之和的计算方法采用纯几何方法或者蒙特卡洛模拟方法。

4.如权利要求1所述的一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：所述调节工装包括底座和螺旋测微头，底座上开设有安装孔一、安装孔二及导槽，所述安装孔一用于与探测器支架连接，所述导槽内设有探测器模块导向块，探测器模块导向块上开设有与安装孔二同轴心线的安装孔三，安装孔三的两侧均插有T型轴套，所述螺旋测微头的螺杆穿过安装孔二后与两个T型轴套固定连接。

5.如权利要求4所述的一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：所述探测器模块导向块与底座的相对面上开设有安装孔四，探测器模块导向块远离底座的侧面上开设有口径小于安装孔四的安装孔五，安装孔四和安装孔五同轴心线且相互贯通；所述底座上开设有口径大于安装孔五且与安装孔五同轴心线的安装孔六，安装孔五内设有连接螺栓，所述连接螺栓的栓帽直径小于安装孔六和安装孔四的口径，连接螺栓的栓帽直径大于安装孔五的口径。

6.如权利要求4所述的一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：所述底座靠螺旋测微头一侧的侧面上固定有螺旋测微头固定块，螺旋测微头固定块上开设有与安装孔二同轴心线的安装孔七，所述螺旋测微头的外壳与安装孔七卡接。

7.如权利要求4所述的一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：所述底座的顶面上开设有与安装孔二连通的螺孔，螺孔内设有用于抵接螺旋测微头的螺杆的紧固螺栓。