[发明专利]一种PCB连线的方法有效
申请号: | 201910457003.0 | 申请日: | 2019-05-29 |
公开(公告)号: | CN110213892B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 朱闪闪;凌峰;代文亮;蒋历国;夏云兵;夏建峰 | 申请(专利权)人: | 芯和半导体科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00 |
代理公司: | 江苏瑞途律师事务所 32346 | 代理人: | 金龙 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcb 连线 方法 | ||
1.一种PCB连线的方法,其特征在于,先获取PCB参数信息,再根据PCB参数信息绘制PCB,然后根据PCB任意一行的RefDes数量对不同的PCB进行匹配,再对互相匹配的PCB进行调整,对互相匹配的PCB进行调整的过程为:通过对互相匹配的PCB进行旋转,使得互相匹配的PCB的RefDes方向相同,再根据PCB的参数信息调整RefDes之间的间隔,使得互相匹配的PCB的RefDes之间的间隔相同,最后将互相匹配的PCB的RefDes进行碰撞连线,将互相匹配的PCB的RefDes进行碰撞连线的具体过程为:将互相匹配的PCB进行移动,使得互相匹配的PCB的RefDes发生碰撞,而后将发生碰撞的RefDes进行连线;其中,任意两个PCB的RefDes的碰撞检测过程为:设定其中一个PCB的RefDes为RefDes-1,另一个PCB的RefDes为RefDes-2;其中,RefDes-1的中心坐标为(x1,y1),且RefDes-1的宽度为w1,RefDes-1的高度为h1;RefDes-2的中心坐标为(x2,y2),且RefDes-2的宽度为w2,RefDes-2的高度为h2;若|x1-x2|<(w1+w2)/2,且|y1-y2|<(h1+h2)/2,则表示RefDes-1和RefDes-2发生碰撞;
其中,|x1-x2|表示x1与x2差值的绝对值,|y1-y2|表示y1与y2差值的绝对值。
2.根据权利要求1所述的一种PCB连线的方法,其特征在于,如果任意一个PCB中一行的RefDes数量与另一个PCB中一行的RefDes数量相同,则将两个PCB进行匹配。
3.根据权利要求1~2任一项所述的一种PCB连线的方法,其特征在于,通过读取BRD文件获取PCB的参数信息,其中,PCB的参数信息包括PCB的坐标以及RefDes的坐标。
4.根据权利要求3所述的一种PCB连线的方法,其特征在于,根据PCB的坐标以及RefDes的坐标绘制PCB。
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