[发明专利]具有空间相关性的圆柱形状误差的监控方法、系统及介质有效

专利信息
申请号: 201910457490.0 申请日: 2019-05-29
公开(公告)号: CN110245395B 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 杜世昌;赵晨;邓亚飞;李贵龙 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F30/17;G06F17/10;G06F17/11;G01B21/20
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 庄文莉
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 具有 空间 相关性 圆柱 形状 误差 监控 方法 系统 介质
【权利要求书】:

1.一种具有空间相关性的圆柱形状误差的监控方法,其特征在于,包括:

表面测量步骤:对圆柱表面进行测量,获得测量点的三维坐标数据;

数据处理步骤:根据获得的测量点的三维坐标数据,获得测量点的误差值;

空间相关性判断步骤:根据获得的测量点的误差值,判断测量点的误差值是否具有空间相关性,获得空间相关性判定结果;

误差模型建立步骤:根据获得的空间相关性判定结果,建立圆柱形状误差模型;

系统误差项确定步骤:根据获得测量点的误差值,将测量点的误差值分为系统误差项和随机误差项,对误差值进行分解,确定系统误差项;

模型参数估计步骤:根据获得的系统误差项对圆柱形状误差模型进行参数估计,获得参数估计值;

过程监控步骤:根据获得的参数估计值,获得监控过程控制图,对圆柱轮廓进行监控;

所述数据处理步骤:

将三维直角坐标系下的测量点坐标转换为极坐标系坐标,使用最小二乘法拟合圆柱圆心和半径,将测量点的极坐标半径值减去圆柱标准半径,获得测量点的误差值,计算公式如下:

y=r(z,θ)-R

其中,

y表示测量点的误差值;

r(z,θ)表示高度为z,角度为θ处测量点的极坐标半径值;

r,z,θ分别为极坐标系下测量点的半径,高度和角度值;

R为理想圆柱标准半径;

所述空间相关性判断步骤:

对测量点的误差值做空间自相关分析,判断检验统计量是否显著:若检验统计量显著,则误差值间存在空间相关性,输出空间相关性判断结果;若检验统计量不显著,则误差值间不存在空间相关性,输出空间相关性判断结果;

所述误差模型建立步骤:

根据获得的空间相关性判断结果,若不存在空间相关性,则建立最小二乘回归模型,作为圆柱形状误差模型;若存在空间相关性,则建立空间自相关模型,作为圆柱形状误差模型;

所述最小二乘回归模型指不包括表示空间相关性的误差项,表达式如下:

y=Xβ+ε

其中,

y表示测量点的误差值;

ε表示随机误差项;

Xβ表示系统误差项;

所述空间自相关模型中,测量点的误差值由相邻点误差项、系统误差项和随机误差项三部分组成,表达式如下:

其中,

y表示测量点的误差值;

p表示空间权重矩阵的全部阶次;

s表示空间权重矩阵的阶次,s=1,2,3,…,p;

ε表示随机误差项;

ρ表示未知滞后系数,用于度量误差值之间空间相关性的强弱,ρ越接近0相关性越弱,反之越强;

W(s)表示s阶空间权重矩阵,即某点与相隔s点的权重为1,其余为0;

表示第t个测量点与第q个测量点的空间相邻情况,若|t-q|≤s,则若|t-q|>s,则

t表示第t个测量点;

q表示第q个测量点;

N表示共有N个测量点;

Xβ表示系统误差项;

ε表示随机误差项,服从正态分布ε~N(0,σ2),σ表示标准差;

所述系统误差项确定步骤:

根据获得测量点的误差值,根据系统误差项具有的周期性,将测量点的误差值分为系统误差项和随机误差项,对误差值进行傅里叶分解,分离系统误差项和随机误差项,并确定系统误差项,计算公式如下:

其中,

Xβ表示系统误差项,即X矩阵与β矩阵的乘积,即傅里叶-勒让德多项式矩阵与系数的矩阵相乘;

X表示误差项包含的所有傅里叶-勒让德多项式组成的矩阵,即[Pj(z)cos(iθ)Pj(z)sin(iθ)];

β表示系统误差项的系数矩阵,即[AijBij]′;

m表示圆柱轴向变化的傅里叶多项式的阶数;

n表示圆柱径向变化的勒让德多项式的阶数;

Pj(z)表示轴向坐标z处的j次勒让德多项式;

Aij表示多项式系数;

Bij表示多项式系数;

j为勒让德多项式的阶数,j=0,1,2,…,n;

i为傅里叶多项式的阶数,i=0,1,2,…,m;

t表示轴向测量点数;

u表示径向测量点数;

k表示轴向第k个测量点;

l表示径向第l个测量点;

rkl表示轴向第k个,径向第l个采样点测量值;

Pj(zl)表示轴向描述函数勒让德多项式;

zl表示第l个采样点的轴向坐标;

Δθ表示径向采样间隔;

勒让德多项式的表达式如下:

P0(z)=1

P1(z)=z

其微分形式为:

其中,

d表示微分符号;

z表示采样点的轴向坐标;

j表示勒让德多项式的阶数;

所述模型参数估计步骤:

根据获得的系统误差项对圆柱形状误差模型进行参数估计:

在进行参数估计时,首先假设空间相关性可以用一阶空间权重矩阵表示,即s=1,带入空间自相关模型中做参数估计,检验剩余误差项是否仍具有空间相关性,若仍存在空间相关性则加入二阶空间权重矩阵,即s=2,重复此过程直至检验结果显示剩余误差项中不存在空间相关性;

采用非线性优化方法使似然函数取得最大值,得到参数估计值表示如下:

c=[ρ1…ρsA1…AijB1…Bij]

其中,

c表示参数估计值矩阵;

[·]表示矩阵符号;

ρs表示s项滞后系数,即s阶空间权重矩阵W(s)对应的系数;

Aij表示i阶傅里叶j阶勒让德多项式系数;

Bij表示i阶傅里叶j阶勒让德多项式系数;

所述似然函数表达式为:

其中,

L(y|ρ,β,σ2)表示似然函数;

σ表示随机误差项ε的标准差ε~N(0,σ2);

N表示测量点的个数;

IN表示N阶的单位矩阵;

ρ表示滞后系数;

W表示空间权重矩阵;

带入Aij和Bij到似然函数L(y|ρ,β,σ2)中,用非线性优化方法求得该似然函数最大值时的ρ值;

所述过程监控步骤:

根据获得的参数估计值c,设计监控参数的多元T2控制图和监控残差的一元控制图,使用多元T2控制图对T2进行监控,T2统计量计算公式如下:

T2=(c-μ)T-1(c-μ)

其中,

T2表示控制图统计量;

μ表示c的均值;

上标T表示矩阵转置;

∑表示c的协方差矩阵;

-1表示c的协方差矩阵的逆;

其上控制线UCL1为:

其中,

UCL1表示T2的上控制线;

表示分位数为α,自由度为c的卡方分布;

α′表示虚报率;

α 表示第一类错误概率;

使用一元控制图对残差估计值的估计方差进行监控,计算残差估计值,计算公式如下:

e=(I-ρW)y-Xβ

e表示残差估计值;

I表示单位矩阵;

ρ表示滞后系数;

W表示空间权重矩阵;

y表示实际测量值;

X表示系统误差项;

β表示系统误差项的系数;

计算残差估计值的估计方差,计算公式如下:

σ2表示残差估计值的估计方差;

e′表示残差估计值的逆矩阵;

N表示测量点个数;

对残差估计值的估计方差σ2进行监控,其上下控制线为:

UCL2表示σ2的上控制线;

LCL表示σ2的下控制线;

χ2表示卡方分布;

N-1表示分位数为自由度为N-1的卡方分布;

N-1表示分位数为自由度为N-1的卡方分布;

根据获得的UCL1、UCL2、LCL,使用多元T2控制图对T2值进行监控,使用一元控制图对残差方差σ2的值进行监控。

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