[发明专利]PIV片光标定装置

说明书

本发明公开了一种PIV片光标定装置，包括底座、支撑架和标定直尺；所述支撑架竖向延伸且所述支撑架的下端与所述底座固定连接或者可枢转连接；当所述支撑架的下端与所述底座固定连接时，所述标定直尺可枢转地设置在所述支撑架的上端；当所述支撑架的下端与所述底座可枢转连接时，所述标定直尺沿着所述支撑架延伸方向固定在所述支撑架上。本发明的PIV片光标定装置，可以实现片光精准标定，且结构简单小巧、操作方便，尤其适用于狭窄空间。

技术领域

本发明涉及PIV相机技术领域，尤其涉及一种PIV片光标定装置。

背景技术

粒子图像测速技术(Particle Image Velocimetry,PIV)是近年来发展起来的一种非接触式流场测量技术。PIV是在流动显示技术的基础上，充分利用光学技术、现代计算机技术和图像处理技术而发展起来的全新的流动测量手段。

与其他单点测速技术相比，PIV技术拥有单点测速技术的高精度和高空间分辨率，实现了全流场的非接触式瞬态测量，目前在涉及流场测量的机械、冶金、化工、汽车、航空、水文和医学等众多领域应用广泛。

典型的PIV系统主要由照明系统、成像系统和图像处理系统等部分组成。照明系统主要由连续或脉冲激光器、光路系统和片光源光学镜头组等构成。成像系统包括数字照相机和信号同步器等。图像处理系统主要是分析软件和工作站。分析软件用于分析成像系统获取的图像或视频，显示采样的图像数据，计算并显示速度矢量场等，工作站为图像处理和流场计算提供强大的运算资源。

利用PIV进行流场测量时，首先需要在反应器流体中散布一定的示踪粒子，然后用激光片光源照射流场待测切面，并利用CCD相机记录下两次脉冲激光曝光时示踪粒子的图像，并应用PIV软件分析图像并计算所测区域内粒子速度，得到流场速度并计算其他参数。

进行PIV测量前，精准的校正标定必不可少。市面上的标定板本质是一块金属板，上面标出点阵，标定板大而笨重，精度不高，且狭窄空间不适。而简单使用直尺标定存在需要人为干预扶持且不够稳定，操作不便，缺乏平面稳定等问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种PIV片光标定装置，可以实现片光精准标定，且结构简单小巧、操作方便，尤其适用于狭窄空间。

根据本发明实施例的PIV片光标定装置，包括：

底座；

支撑架，所述支撑架竖向延伸且所述支撑架的下端与所述底座固定连接或者可枢转连接；

标定直尺，当所述支撑架的下端与所述底座固定连接时，所述标定直尺可枢转地设置在所述支撑架的上端；当所述支撑架的下端与所述底座可枢转连接时，所述标定直尺沿着所述支撑架延伸方向固定在所述支撑架上。

根据本发明实施例的PIV片光标定装置，主要由底座、支撑架和标定直尺构成，当支撑架的下端与底座固定连接时，标定直尺可以相对支撑架枢转，来进行标定直尺的倾角位置调节；当支撑架的下端与底座可枢转连接时，标定直尺固定在支撑架上，通过支撑架相对于底座枢转，来进行标定直尺的倾角位置调节。由于标定直尺倾角位置可以调节，同时通过标定直尺上的刻度可以实现片光精准标定。此外，本发明实施例的PIV片光标定装置结构简单小巧、操作方便，尤其适用于狭窄空间。

根据本发明的一个实施例，当所述支撑架的下端与所述底座固定连接时，所述支撑架为伸缩杆。

根据本发明进一步的实施例，所述伸缩杆包括第一杆、第二杆和旋钮，所述第一杆的下端固定在所述底座上，所述第二杆的下端从所述第一杆的上端插入所述第一杆中，所述旋钮设置在所述第一杆上，当所述旋钮松开时，所述第二杆相对于与所述第一杆可移动；当所述旋钮拧紧时，所述第二杆相对于所述第一杆固定，所述标定直尺可枢转地设置在所述第二杆的上端。