[发明专利]显示面板及其检测方式

权利要求书

1.一种显示面板，包括；

多条第一连接线；

多条横向的扫描线与多条纵向的数据线交错配置，其中所述数据线于所述显示面板之第一侧与所述第一连接线连接；

一第一纵向测试电极，配置于所述显示面板的第三侧，并与所述扫描线垂直交错；

一第一浮空电极，具有一端点与一第一驱动板电性连接；以及

一横向测试电极，配置于所述显示面板的第二侧，并与所述数据线垂直交错，其中所述第一侧与所述第二侧相对，其中所述横向测试电极及所述第一纵向测试电极电性相接。

2.根据权利要求1所述的显示面板，更包括：

一控制板，其中所述第一驱动板与所述控制板电性连接，以及所述多条第一连接线与所述第一驱动板电性连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板，更包括：

一第二驱动板，与所述控制板电性连接；

多条第二连接线，其中所述多条第二连接线与所述第二驱动板电性连接，且所述多条第二连接线与所述第二驱动板配置于所述显示面板之第一侧；

一第二纵向测试电极，配置于所述显示面板之第四侧，并与所述扫描线垂直交错，其中第四侧与第三侧相对；以及

一第二浮空电极，具有一端点与所述第二驱动板电性连接。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其中

所述多条第一连接线、所述第一浮空电极、所述多条横向的扫描线、以及所述横向测试电极位于一闸极金属层；以及

所述多条纵向的数据线及所述第一纵向测试电极位于一源极/漏极金属层，其中所述源极/漏极金属层位于所述闸极金属层之上。

5.根据权利要求2所述的显示面板，更包括：

一第一浮空电极引脚，配置于所述控制板上，与所述第一浮空电极相接。

6.根据权利要求3所述的显示面板，更包括：

一第二浮空电极引脚，配置于所述控制板上，与所述第二浮空电极相接。

7.一种面板检测方式，包括；

S10 提供一显示面板，包括：

多条第一连接线；

多条横向的扫描线(gate lines)与多条纵向的数据线(data lines)交错配置，其中所述数据线于所述显示面板之第一侧与所述第一连接线连接；

一第一纵向测试电极，配置于所述显示面板的第三侧，并与所述扫描线垂直交错；

一第一浮空电极，具有一端点与一第一驱动板电性连接；以及

一控制板，其中所述第一驱动板与所述控制板电性连接，以及所述多条第一连接线与所述第一驱动板电性连接；

S20a 利用激光熔接所述第一浮空电极之另一端点及所述第一纵向测试电极；

S30b 利用激光熔接垂直交错的所述第一纵向测试电极及一扫描线，形成一熔接点；以及

S40b 收集传回所述控制板的讯号，以对所述扫描线进行波形测试。

8.一种面板检测方式，包括；

S10 提供一显示面板，包括：

多条第一连接线；

多条横向的扫描线(gate lines)与多条纵向的数据线(data lines)交错配置，其中所述数据线于所述显示面板之第一侧与所述第一连接线连接；

一横向测试电极，配置于所述显示面板的第二侧，并与所述数据线垂直交错，其中第一侧与第二侧相对；

一第一纵向测试电极，配置于所述显示面板的第三侧，并与所述扫描线垂直交错；

一第一浮空电极，具有一端点与一第一驱动板电性连接；以及

一控制板，其中所述第一驱动板与所述控制板电性连接，以及所述多条第一连接线与所述第一驱动板电性连接；

S20a 利用激光熔接所述第一浮空电极之另一端点及所述第一纵向测试电极；

S25a 利用激光熔接垂直交错的所述横向测试电极及所述第一纵向测试电极；

S30a 利用激光熔接垂直交错的所述横向测试电极及一数据线，形成一熔接点；以及

S40a 收集传回控制板的讯号，以对所述数据线进行波形测试。

9.根据权利要求8项所述的面板检测方式，其中所述显示面板，更包括：

一第二驱动板，与所述控制板电性连接；

多条第二连接线，其中所述多条第一连接线与所述第一驱动板电性连接，所述多条第二连接线与所述第二驱动板电性连接，且所述多条第一连接线及多条第二连接线与所述数据线于所述显示面板之第一侧连接；

一第二纵向测试电极，配置所述显示面板之第四侧，并与所述扫描线垂直交错，其中所述第三侧与所述第四侧相对；以及

一第二浮空电极，具有一端点与所述第二驱动板电性连接；

所述面板检测方式，更包括；

S20b 利用激光熔接所述第二浮空电极之另一端点及所述第二纵向测试电极;

S25b 利用激光熔接垂直交错的所述横向测试电极及所述第二纵向测试电极；

S30c 利用激光熔接垂直交错的所述横向测试电极及另一数据线，其中所述另一数据线与所述控制板之间的讯号传送不经过步骤S30a或S30b中的所述熔接点；以及

S40c 收集传回所述控制板的讯号，以对所述数据线进行波形测试。