[发明专利]一种加工质量检验中改进的点对曲面距离的计算方法

权利要求书

1.一种加工质量检验中改进的点对曲面距离的计算方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)根据奈奎斯特采样定理确定采样间隔，并通过计算曲面S最小曲率半径，共同确定曲面的最短波长；

(2)根据所得的采样间隔和曲面的边长确定初始分割数，再沿着u，v方向分别分割曲面S，使曲面S成为带有网格点的网格；并计算曲面S上各个网格点到点P的距离；

(3)通过分割逼近法搜索最小距离以及其对应的网格点，并在相邻面片区域进行再分割，将每次分割的分割步长减小到小于阈值为止；

(4)分割次数随着迭代次数递减直至收敛；点P到最后一次分割产生的新的网格点的距离即为所求曲面S与目标点P之间的偏差。

2.根据权利要求1所述一种加工质量检验中改进的点对曲面距离的计算方法，其特征在于，步骤(1)中确定最短波长l_s≤0.5l_w≤r，其中l_s是采样间隔，l_w最短波长，r是最小曲率半径。

3.根据权利要求1所述一种加工质量检验中改进的点对曲面距离的计算方法，其特征在于，步骤(2)中，假设曲面的边长是L_A和L_B,则分割数N为:

N＝(n_A+1)·(n_B+1)

其中n_A和n_B分别表示u,v方向上的分割行列数，(n_A+1),(n_B+1)分别表示网格的总行数和总列数。

4.根据权利要求1所述一种加工质量检验中改进的点对曲面距离的计算方法，其特征在于，阈值设为x，再分割时的分割数计算为:

分割步长定义为:

其中t表示分割次数，分别表示u,v方向上的t次分割形成网格的行数和列数，分别表示u,v方向上的(t+1)次分割形成网格的行数和列数，表示(t+1)次分割时的采样间隔，^Al_s^t+1和分别表示u,v方向上的分割步长。