[发明专利]一种像素暗态漏光的检测装置

说明书

本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置，该检测装置包括：载台；图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数。本发明的像素暗态漏光的检测装置，能够准确地获取漏光特征参数，从而有效地提升对比度。

【技术领域】

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种像素暗态漏光的检测装置。

【背景技术】

液晶显示装置以其轻薄小巧和低能耗等优点，被广泛的应用于各种电子产品中。对比度是衡量TFT-LCD显示质量的重要参数，对比度通常定义为亮态画面(红、绿、蓝子像素均为最高灰阶)与暗态画面(红、绿、蓝子像素均为零灰阶)的亮度比值。对比度越高，黑色画面纯度越高，给观看者的感受越好。

然而，暗态漏光往往是限制TFT-LCD对比度提升的主要因素，目前通常采用频谱仪分别测量亮态画面和暗态画面的亮度来获取TFT-LCD的对比度。但是这种仪器的测量范围通常覆盖几十个至几百个像素，通过此装置只能确定暗态漏光的总量，无法确定暗态漏光的分布都来自该像素的哪一个区域。或者通过光学显微镜得到暗态漏光图像，但是成像质量较低，且无法去除显微成像系统中的图片自动处理功能，从而难以进行精确的后期定量计算与处理。可见，现有的像素暗态漏光检测装置无法准确地获取漏光特征参数，进而不能有效地提升对比度。

因此，有必要提供一种像素暗态漏光的检测装置，以解决现有技术所存在的问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种像素暗态漏光的检测装置，能够准确地获取漏光特征参数，从而有效地提升对比度。

为解决上述技术问题，本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置，包括：

载台；

图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；

图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数。

本发明的像素暗态漏光的检测装置，包括载台；图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数，由于通过相机和光学显微镜共同获取暗态显示时像素的画面，从而能够准确性获取漏光特征参数，进而有效地提升对比度。

【附图说明】

图1为本发明的像素暗态漏光的检测装置的结构示意图；

图2为本发明的载台的俯视图；

图3为本发明的位置调整组件的俯视图；

图4为本发明的夹具的正视图。

【具体实施方式】

以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。

如图1所示，本发明的像素暗态漏光的检测装置包括：载台10、图像获取模组20以及图像处理器30。